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信号测试方法、装置、片上系统、电子设备及存储介质[发明专利]

专利名称：信号测试方法、装置、片上系统、电子设备及存储介质

专利类型：发明专利

发明人：杨培宇，杜艳，王兴珍，王家兴，陈才

申请号：CN202210375705.6

申请日：20220411

公开号：CN114443400A

公开日：

20220506

专利内容由知识产权出版社提供

摘要：本说明书提供了一种信号测试方法、装置、片上系统、电子设备及存储介质，其中，所述信号测试方法在PCIe总线系统物理层的目标缓存区域中，基于经过所述物理层处理前后的待测试信号（即第一信号和第二信号），获取表征所述待测试信号质量的测试信息，实现在PCIe总线系统内部对待测试信号质量进行测试的目的。利用本说明书提供的信号测试方法进行信号质量测试，一方面不会妨碍待测试信号正常通过物理层，无需因为信号测试而中断正常信号传输，有利于提高测试和使用效率，为实现实时的信号测试奠定了基础。另一方面，由于该方法无需外接测试设备，简化了信号测试步骤，提高了测试效率，而且有利于降低信号测试所需的硬件成本。

申请人：飞腾信息技术有限公司

地址：300450 天津市滨海新区海洋高新技术开发区信安创业广场5号楼

国籍：CN

本文发布于:2024-09-23 02:23:32，感谢您对本站的认可！

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