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Gamma调试方法、装置及存储介质[发明专利]

专利名称：Gamma调试方法、装置及存储介质专利类型：发明专利

发明人：肖长宪，杨永琦，王晓飞，王志伟

申请号：CN202111541257.4

申请日：20211216

公开号：CN114203090A

公开日：

20220318

专利内容由知识产权出版社提供

摘要：本申请公开了一种Gamma调试方法、装置及存储介质。Gamma调试方法包括：控制待测显示模组显示固定灰阶图片；根据预设Gamma参数确定多个灰阶绑点分别对应的目标显示参数；调整所述待测显示模组的数据信号参数，以在所述固定灰阶图片的实际显示参数与所述灰阶绑点的目标显示参数匹配时，确定与每个所述灰阶绑点分别对应的目标数据信号参数；将所述预设Gamma参数下，每个所述灰阶绑点与所述目标数据信号参数的对应关系烧录至所述待测显示模组的模组芯片。根据本申请实施例，在对待测显示模组进行Gamma调试时显示的是同一固定灰阶图片，不需要对图片进行切换，从而能够节省Gamma调试过程中的切图时间，降低Gamma调试时长，提升Gamma调试效率以及显示模组的生产效率。

申请人：霸州市云谷电子科技有限公司

地址：065700 河北省廊坊市霸州市经济开发区电子信息产业园泰山路东

国籍：CN

代理机构：北京东方亿思知识产权代理有限责任公司

代理人：杨永恒

本文发布于:2024-09-22 04:03:48，感谢您对本站的认可！

本文链接：https://www.17tex.com/tex/1/402211.html

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