一种干涉显微成像方法及干涉显微镜[发明专利]

专利名称：一种干涉显微成像方法及干涉显微镜专利类型：发明专利

发明人：杜凯，李俊，王金玉，尹韶云，熊亮，邹钱生，王浩申请号：CN202010431543.4

申请日：20200520

公开号：CN111474141A

公开日：

20200731

专利内容由知识产权出版社提供

摘要：本发明提供一种干涉显微成像方法及干涉显微镜，具体地，一种干涉显微镜，包括光源发生装置、补偿干涉腔，探测臂、信号采集与处理单元；补偿干涉腔接收光源发生装置产生的光束并进行反射后成为反射光束进入所述探测臂；所述探测臂对所述反射光束进行聚焦形成样品光，并将样品光发送给所述信号采集与处理单元；其中，所述探测单元设有第二显微物镜，所述第二显微物镜用于将光聚焦于样品上并将所述样品的结构信息调制成光线返回。该干涉显微镜，通过在补偿干涉腔中插入第一显微物镜，使参考光与样品光均经过完全相同的显微物镜只是顺序不一样，保证样品光和参考光的光程完全相等，避免了因经过光学器件的不一致导致的干涉面上有些点不等光程。

申请人：中国科学院重庆绿智能技术研究院

地址：400714 重庆市北碚区方正大道266号

国籍：CN

代理机构：北京元本知识产权代理事务所(普通合伙)

代理人：王美兰

本文发布于:2024-09-24 23:30:22，感谢您对本站的认可！

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