(12)发明专利说明书 | ||
(10)申请公布号 CN 113341296 A (43)申请公布日 2021.09.03 | ||
权利要求说明书 说明书 幅图 |
本发明公开了一种基于ATE的SOC芯片测试方法,包括以下步骤:设计接口完成ATE平台和SOC芯片的连接;基于ATE平台进行SOC芯片LVDS的输入和输出测试;基于ATE平台进行SOC芯片ADC和DAC的动态测试。具有速率高,抗干扰能力强优点。同时又兼有集成度高,量产成本低等优点,可分析混合芯片测试所需的基于DSP的相干采样原理,以及不相干采样对测试结果的影响。 | |
法律状态公告日 | 法律状态信息 | 法律状态 |
2021-09-21 | 实质审查的生效 | 实质审查的生效 |
2021-09-03 | 公开 | 公开 |
2022-12-27 | 授权 | 发明专利权授予 |
2023-03-10 | 专利权质押合同登记的生效IPC(主分类):G01R31/28专利号:ZL2021105321314登记号:Y2023310000039登记生效日:20230222出质人:上海科海华泰船舶电气有限公司质权人:上海农村商业银行股份有限公司松江支行发明名称:一种基于ATE的SOC芯片测试方法申请日:20210517授权公告日:20221227 | 专利权质押合同登记的生效、变更及注销 |
本文发布于:2024-09-22 12:51:04,感谢您对本站的认可!
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