一种基于ATE的SOC芯片测试方法

(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利说明书
(10)申请公布号 CN 113341296 A
(43)申请公布日 2021.09.03
(21)申请号 CN202110532131.4
(22)申请日 2021.05.17
(71)申请人 上海科海华泰船舶电气有限公司
    地址 201601 上海市松江区泗泾镇九干路289号
(72)发明人 高杨
(74)专利代理机构 31306 上海愉腾专利代理事务所(普通合伙)
    代理人 唐海波
(51)Int.CI
      G01R31/28(20060101)
                                                                  权利要求说明书 说明书 幅图
(54)发明名称
      一种基于ATE的SOC芯片测试方法
(57)摘要
      本发明公开了一种基于ATE的SOC芯片测试方法,包括以下步骤:设计接口完成ATE平台和SOC芯片的连接;基于ATE平台进行SOC芯片LVDS的输入和输出测试;基于ATE平台进行SOC芯片ADC和DAC的动态测试。具有速率高,抗干扰能力强优点。同时又兼有集成度高,量产成本低等优点,可分析混合芯片测试所需的基于DSP的相干采样原理,以及不相干采样对测试结果的影响。
法律状态
法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2021-09-21
实质审查的生效
实质审查的生效
2021-09-03
公开
公开
2022-12-27
授权
发明专利权授予
2023-03-10
专利权质押合同登记的生效IPC(主分类):G01R31/28专利号:ZL2021105321314登记号:Y2023310000039登记生效日:20230222出质人:上海科海华泰船舶电气有限公司质权人:上海农村商业银行股份有限公司松江支行发明名称:一种基于ATE的SOC芯片测试方法申请日:20210517授权公告日:20221227
专利权质押合同登记的生效、变更及注销
权 利 要 求 说 明 书
【一种基于ATE的SOC芯片测试方法】的权利说明书内容是......
说  明  书
【一种基于ATE的SOC芯片测试方法】的说明书内容是......

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