专利名称:一种双能X射线测量地层密度测井装置和方法专利类型:发明专利x射线探测器
发明人:于华伟,陈翔鸿,周悦
申请号:CN201811091999.X
申请日:20180919
公开号:CN109444972A
公开日:
20190308
专利内容由知识产权出版社提供
摘要:本发明公开一种双能X射线测量地层密度测井装置和方法,具体涉及石油及天然气勘探领域。该装置采用X射线管、电子加速管、监测探测器、远近两个NaI探测器。首先,利用监测探测器确保X射线产额稳定。然后,利用X射线在地层衰减原理,建立地层电子密度与高、低能窗计数的响应关系,从而计算精确的地层电子密度,通过地层电子密度与地层密度关系进一步计算地层密度。本发明通过采用监测探测器确保X射线产额稳定等手段,同现有方法相比获得了更为准确的计算基础,从而可以计算出准确的地层密度。另外,本发明装置还克服了对化学源的使用,更加健康、安全和环保,并有效降低了对电子加速管和探测器等的工艺要求。
申请人:中国石油大学(华东)
地址:266580 山东省青岛市黄岛区经济技术开发区长江西路66号
国籍:CN
代理机构:青岛智地领创专利代理有限公司
代理人:邵朋程