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磁盘装置的磁盘检查方法及磁盘装置与流程

磁盘装置的磁盘检查方法及磁盘装置
1.本技术享受以日本特许申请2020-176105号(申请日：2020年10月20日)为基础申请的优先权。本技术通过参照该基础申请而包含基础申请的全部内容。
技术领域
2.实施方式涉及磁盘装置的磁盘检查方法及磁盘装置。

背景技术：

3.已知如下技术：在磁盘装置中，对记录介质上的损伤进行检测，并登记检测到的损伤。
4.在磁盘装置的磁盘上存在微小的磁缺陷、几何学缺陷，例如突起、凹痕(pit)或者微小的损伤。存在那样的缺陷的部位的记录信号的品质差，有时即使在出厂检查时没有异常，由于对相邻磁道反复进行记录，该部位的记录品质也会降低，记录信息的读出会变得困难。另外，磁盘上的突起的存在有可能损伤记录头，会导致损害磁盘装置的可靠性。因此，为了使得磁盘装置不对存在这些磁缺陷、几何学缺陷的部位写入记录信息，需要预先检测并登记存在缺陷的部位。

技术实现要素：

5.本发明的实施方式提供能够准确地检测磁盘上的缺陷的磁盘装置的磁盘检查方法及磁盘装置。
6.一个实施方式涉及的磁盘装置具备：磁盘；滑块，其包括从所述磁盘读取数据的读取头、向所述磁盘写入数据的写入头、对所述读取头或者所述写入头与所述磁盘的间隙进行调整的热致动器以及对所述间隙进行检测的间隙传感器；前置放大器，其包括第1处理部和第2处理部，所述第1处理部具有以预定频率对所述间隙传感器的输出进行滤波的第1滤波器，所述第2处理部具有以比所述第1滤波器的频率高的频率对所述间隙传感器的所述输出进行滤波的第2滤波器；以及控制部，其控制所述滑块对所述磁盘的读/写。在该磁盘装置的磁盘检查方法中，磁盘装置在基于所述间隙传感器的输出，使用所述第1处理部和所述第2处理部来检查所述磁盘的记录面的缺陷的情况下，对根据排除了成为检查对象的磁道之后的多个磁道的所述第1处理部的输出而定义的阈值与成为所述检查对象的磁道的所述第1处理部的输出进行比较，当成为所述检查对象的磁道的所述第1处理部的输出超过所述阈值时，检测出在所述磁盘的该磁道存在缺陷。
附图说明
7.图1是表示第1实施方式涉及的磁盘装置的构成的一个例子的框图。
8.图2是用于对该实施方式涉及的使滑块的头面向磁盘的记录面突出的构成的一个例子进行说明的示意图。
9.图3是表示该实施方式涉及的在磁盘上存在突起部的情况下的一个例子的图。
10.图4是表示该实施方式涉及的在磁盘上存在凹部的情况下的一个例子的图。
11.图5是表示对该实施方式涉及的凹部相连而构成了槽的情况下的一个例子进行表示的afm图像的图。
12.图6是表示图5的槽的截面的图。
13.图7是表示对该实施方式涉及的凹部相连而构成了槽、进一步伴有毛刺(burr)的情况下的一个例子进行表示的afm图像的图。
14.图8是表示图7的伴有毛刺的槽的截面的图。
15.图9的(a)、(b)是表示该实施方式涉及的间隙传感器的输出的变化的一个例子的图。
16.图10的(a)、(b)是表示该实施方式涉及的间隙传感器的输出的变化的一个例子的图。
17.图11的(a)、(b)是表示实施方式涉及的间隙传感器的输出的变化的一个例子的图。
18.图12是表示该实施方式涉及的检查部的电路构成的一个例子的图。
19.图13是用于对该实施方式涉及的以磁道为单位检测缺陷的方法的一个例子进行说明的图。
20.图14是表示该实施方式涉及的以磁道为单位的间隙传感器s的输出(电阻的大小)的一个例子的图。
21.图15是表示该实施方式涉及的判定缺陷的处理的一个例子的流程图。
22.图16是表示第2实施方式涉及的判定缺陷的处理的一个例子的流程图。
23.图17是表示该实施方式涉及的检查结果的一个例子的图。
24.图18是表示实施方式涉及的存储于阈值存储部的信息的一个例子的图。
25.标号说明
26.1磁盘装置；2磁盘；2a记录面；2b突起部；2c凹部；10磁头；11头放大器ic；14mpu；100检查电路；110第1处理部；120第2处理部；111、122lpf(低通滤波器)；121hpf(高通滤波器)；161缺陷位置存储部；162阈值存储部；th阈值；d1相对的行进方向
具体实施方式
27.以下，参照附图对实施方式进行说明。此外，公开只不过是一个例子，并不是通过以下的实施方式所记载的内容限定发明。本领域技术人员能够容易地想到的变形当然包含在公开的范围内。为了使说明更加明确，在附图中，有时也使各部分的尺寸、形状等相对于实际的实施形态进行变更来示意性地表示。在多个附图中，有时也对所对应的要素赋予相同的参照数字，省略详细的说明。
28.(第1实施方式)
29.图1是表示第1实施方式涉及的磁盘装置1的构成的一个例子的框图。
30.如图1所示，磁盘装置1例如作为硬盘驱动器(hdd)来构成。磁盘装置1具备磁盘2、主轴马达(spm)3、致动器4、音圈马达(vcm)5、磁头10、头放大器ic(前置放大器)11、r/w通道12、硬盘控制器(hdc)13、微处理器(mpu)14、驱动器ic15以及存储器16。
31.另外，磁盘装置1能够与主机17连接。详细将在后面进行描述，但磁头10具备写入
头10w、读取头10r以及作为高频振荡元件的自旋转矩振荡器(spin-torque-oscillator：sto)100。此外，r/w通道12、hdc13以及mpu14也可以组装于单个芯片的集成电路。
32.磁盘2例如具有形成为圆板状且由非磁性体形成的基板。在基板的各记录面，按如下记载的顺序层叠有作为基底层的由呈现软磁特性的材料形成的软磁性层、在该软磁性层的上层部的在与记录面正交的方向上具有磁各向异性的磁记录层、在该磁记录层的上层部的保护膜层。在此，将磁头10的方向作为上层。
33.磁盘2固定于主轴马达(spm)3，通过该spm3被使得以预定的速度进行旋转。此外，不限于一块，也可以在spm3设置有多块磁盘2。spm3由从驱动器ic15供给的驱动电流(或者驱动电压)进行驱动。磁盘2通过磁头10进行数据图案(pattern)的记录再现。
34.致动器4以能够自由转动的方式设置、并且在其前端部支承有磁头10。通过音圈马达(vcm)5使致动器4进行转动，由此，磁头10被移动、定位到磁盘2的所希望的磁道上。vcm5由从驱动器ic15供给的驱动电流(或者驱动电压)进行驱动。
35.磁头10具有滑块301和形成于滑块301的写入头10w以及读取头10r等(参照图2)。磁头10与磁盘2的块数相应地设置有多个。例如，在一块磁盘2的上表面和下表面设置有两个磁头10。
36.头放大器ic11包括与sto100的驱动、振荡特性的检测等有关的电路。另外，在本实施方式中，头放大器ic11具有检查电路(检查部)100。检查电路100是用于检查磁盘2的记录面的缺陷的电路。对于检查电路100的详细，将参照图12，在后面进行描述。
37.头放大器ic11设置在磁头10与r/w通道(读/写电路)之间。头放大器ic11执行sto100的驱动、驱动信号检测等。进一步，头放大器ic11向写入头10w提供与从r/w通道12提供的写数据相应的写信号(写电流)。另外，头放大器ic11对从读取头10r输出的读信号进行放大，并传输至r/w通道12。进一步，虽省略图示，但头放大器ic1具有sto控制部、记录线圈控制部、再现信号检测部、加热器控制部。sto控制部对向sto100通电的电流进行控制。记录线圈控制部根据写入信号，对向写入头10w的线圈供给的记录电流进行控制。再现信号检测部对用读取头10r再现出的信号(读数据)进行检测。加热器控制部对向加热器(热致动器)的电力供给进行控制。
38.r/w通道12是对与读出(读)/写入(写)关联的信号进行处理的信号处理电路。r/w通道12包括执行读数据的信号处理的读通道、和执行写数据的信号处理的写通道。r/w通道12将读信号变换为数字数据，从数字数据解调读数据。r/w通道12对从hdc13传送的写数据进行编码，向头放大器ic11传送进行编码而得到的写数据。
39.hdc13对经由了磁头10、头放大器ic11、r/w通道12以及mpu14的向磁盘2的数据的写入、和从磁盘2的数据的读出进行控制。hdc13构成磁盘装置1与主机17的接口，执行读数据和写数据的传送控制。即，hdc13作为接收从主机17传送的信号、并且向主机17传送信号的主机接口控制器发挥功能。在向主机17传送信号的情况下，hdc13依照mpu14的控制，执行由磁头10读出、解调而得到的再现信号的数据的纠错处理。另外，hdc13接收从主机17传送的命令(写命令、读命令等)，向mpu14发送所接收到的命令。
40.mpu14是磁盘装置1的主控制器，执行读/写动作的控制和磁头10的定位所需要的伺服控制。此外，在磁盘2记录有定位信息，执行基于由读取头10r读取到的定位信息来使磁头10位于所希望的位置(磁道)的伺服控制。
41.驱动器ic15按照mpu14的控制，对spm3和vcm5的驱动进行控制。通过vcm5进行驱动，磁头10被向磁盘2上的目标磁道进行定位。
42.存储器16包括易失性存储器和非易失性存储器。例如，存储器16包括由dram构成的缓冲存储器和闪速存储器。存储器16保存mpu14的处理所需要的程序以及与各种控制有关的控制值等参数。另外，在本实施方式中，在存储器16设置有缺陷位置存储部161和阈值存储部162。缺陷位置存储部161存储在磁盘2上存在了缺陷的位置(例如磁道编号和扇区编号)。在此，缺陷是指磁盘2上的突起、凹痕或者微小的损伤。这样的缺陷例如通过出厂时的检查来进行检测，被存储于存储器的缺陷位置存储部161。关于该检查的详细，将在后面进行描述。阈值存储部162存储在检查时用于检测缺陷时的阈值。关于该阈值的详细，将在后面进行描述。
43.接着，对如下构成进行说明，该构成为：在磁盘装置1中，在搭载于滑块301的写入头10w和读取头10r的周边设置加热器302a、302b，通过该加热器302a、302b使写入头10w和读取头10r的头面向磁盘2突出。
44.图2是用于对使滑块301的头面向磁盘2的记录面突出的构成的一个例子进行说明的示意图。
45.如图2所示，示出滑块301，并且，在箭头的前方示出了该滑块301的前端部分的放大图。在该前端部分设置为包括写入头10w和读取头10r的滑块301的头面与磁盘2的记录面2a相对向。进一步，在写入头10w和读取头10r的附近分别设置有加热器302a、302b。通过已经描述的头放大器ic11内的加热器控制部对加热器302a、302b施加电压，由此，加热器302a或者加热器302b膨胀，写入头10w和读取头10r的头面向磁盘2的记录面2a突出，写入头10w和读取头10r的头面与磁盘2的记录面的间隙被进行调整。
46.写入头10w和读取头10r的头面与磁盘2的记录面的间隙由间隙传感器s进行检测。在本实施方式中，间隙传感器s是电阻型传感器。
47.在如上述那样的磁盘装置1中，如已经描述的那样，磁盘2上的缺陷在出厂检查时例如通过以下的方法被登记于存储器16的缺陷位置存储部161。第1方法是如下方法：用读取头10r读取并再现记录在磁盘2上的信号，使用该再现信号的振幅变化来检测缺陷。第2方法是如下方法：使用搭载于滑块301的间隙传感器s输出的信号的振幅变化来进行检测。
48.这些方法在为局部的缺陷、例如存在于磁盘2上的一个磁道内的一个扇区的情况下、或者是跨多个磁道且跨一个磁道内的十分少数的扇区的缺陷的情况下，能够通过对再现信号、或者间隙传感器s的输出的一个磁道内的振幅的变动进行监视来进行检测。
49.对于磁盘2的几何学缺陷、即突起或者损伤等的凹陷，能够通过已述的第2方法，根据前述的间隙传感器s的输出来进行检测。以下，将该动作分为突起的情况和凹陷的情况来进行说明。
50.图3是表示在磁盘2上具有突起部2b的情况下的一个例子的图。
51.更详细而言，如图3所示，示出滑块301在磁盘2的记录面2a上沿着相对的行进方向(实际上，由于磁盘2进行旋转，因此是外观的行驶方向，以下称为相对方向)d1进行移动的状态，在磁盘2的记录面2a存在突起部2b。
52.在此，在本实施方式中，间隙传感器s如已经描述的那样是电阻型传感器，通过对间隙传感器s通电，间隙传感器s发热。此时的间隙传感器s的温度由接入到间隙传感器s的
电力、间隙传感器s与磁盘2的间隙以及磁盘2与滑块301的相对速度来决定。当在将向间隙传感器s的接入电流或者电压维持为一定不变的状态下，间隙传感器s接近磁盘2上的突起部2b时，间隙传感器s与磁盘2的间隙会变窄，间隙传感器s的热容易逃逸到磁盘2。因此，间隙传感器s的温度会降低。进一步，当间隙传感器s与突起部2b接触时，会成为间隙传感器s与磁盘2个体接触，因此，从间隙传感器s向磁盘2的热传导率与具有间隙的情况下的热传导率相比会显著地增加。因此，热逃逸到磁盘2，间隙传感器s的温度会急剧地下降。并且，当间隙传感器s通过突起部2b时，间隙传感器s与磁盘2的间隙再次复原，因此，间隙传感器s的温度恢复。在本实施方式中，间隙传感器s采用金属来作为材质，因此，其电阻会相对于温度变化。当温度提高时，间隙传感器s的电阻变大，因此，通过对间隙传感器s的电阻值进行监视，能够检测有无突起部2b。
53.在图3的下侧示出了基于间隙传感器s的输出来检测电阻的大小而得到的波形w1。在图3中，纵轴为电阻的大小，示出了越是靠上侧、电阻越大。
54.示出了：波形w1表示的电阻的大小维持一定值，但在间隙传感器s即将与突起部2b接触时会下降，在发生了接触的时间点会急剧地降低，从越过了突起部2b的时间点开始急剧地恢复，在间隙传感器s即将通过突起部2b时，恢复变得缓慢，当间隙传感器s通过突起部2b时，恢复为原本的电阻的大小。因此，对该波形w1进行监视，在电阻的大小急剧地下降的情况下，能够检测出在磁盘2的记录面2a具有突起部2b这一情况。
55.图4是表示在磁盘2上具有凹部2c的情况的一个例子的图。
56.更详细而言，如图4所示，为滑块301在磁盘2的记录面2a上沿着相对方向d1进行移动的状态，在磁盘2的记录面2a存在凹部2c。
57.当间隙传感器s在凹部2c上通过时，由于间隙传感器s与磁盘2的间隙变宽，因此，间隙传感器s的热难以逃向磁盘2。因此，间隙传感器s的温度会上升，通过对间隙传感器s的电阻大小的上升进行检测，能够检测凹部2c的存在。
58.在图4的下侧示出了基于间隙传感器s的输出来检测电阻的大小而得到的波形w2。在图4中，纵轴是电阻的大小，示出了越是靠上侧、电阻越大这一情况，这与图3的情况是同样的。
59.示出了：波形w2表示的电阻的大小维持一定值，但间隙传感器s即将到达凹部2c时电阻的大小会逐渐上升，在凹部2c的最凹陷附近上升最快，当通过该最凹陷的附近时会逐渐下降，当间隙传感器s通过凹部2c时，恢复为原本的电阻大小。因此，对该波形w2进行监视，在电阻的大小上升的情况下，能够检测出在磁盘2的记录面具有凹部2c这一情况。
60.在此，磁盘2具有的实际的突起部2b是微小的，因此，产生电阻变化是一瞬的。因此，在本实施方式中，以提高检测灵敏度为目的，使用高通滤波器(high pass filter：hpf)。另一方面，磁盘2的凹部2c有时为如磁盘2的磁性膜脱落那样的缺陷和损伤那样长的凹部。例如，在膜脱落的情况下，凹部2c是微小的，因此，与前述的突起部2b的情况同样地，使用hpf是有效的。
61.然而，磁盘2的缺陷不仅存在如以上说明那样的突起部2b、凹部2c的情况，也存在凹部2c较长地相连而形成槽的情况或者该槽伴有毛刺的情况。
62.在此，图5是表示凹部2c相连而构成了槽的情况下的一个例子的afm图像im1，图7是表示凹部2c相连而构成槽、进一步伴有毛刺的情况下的一个例子的afm图像im2。图6是表
示图5的槽的截面的图，图8是表示图7的伴有毛刺的槽的截面的图。在此，afm图像是指通过原子力显微镜(atomic force microscope)拍摄到的图像。afm是如下装置：能够用设置于悬臂(cantilever)的前端的针对试料表面进行操作，以亚纳米等级对表面形状的凹凸进行测定。
63.如图5所示，afm图像im1包含截面示于图6的凹部相连而构成的槽的图像im11。另外，如图7所示，afm图像im2包含截面示于图8的凹部相连而构成槽、进一步伴有毛刺的图像im21。
64.在如图5的图像im11表示的槽(或者图7的图像im21表示的伴有毛刺的槽)那样的缺陷的情况下，当与滑块301的相对方向d1正交时，缺陷不变地被检测为凹部2c。因此，能够通过用hpf对间隙传感器s的输出的振幅进行滤波来进行检测。然而，如槽那样的缺陷的方向不一定限于与滑块301的相对方向d1正交。也存在如槽那样的缺陷的方向与滑块301的相对方向d1所成的角度比90度小、最差时所成的角度为平行的情况、也即是在磁盘2上沿着周向存在缺陷的情况。
65.图9～图11是表示如由凹部2c构成的槽那样的缺陷的方向与滑块301的相对的行进方向所成的角度为正交的情况(参照图9)、45度的情况(参照图10)以及平行的情况(参照图11)下的间隙传感器s的输出的变化的一个例子的图。
66.图9的(a)表示如由凹部2c构成的槽那样的缺陷的方向与滑块301的相对的行进方向d1所成的角度为正交的情况。另外，图9的(b)表示与由磁盘2的记录面2a的凹部2c构成的槽对应的间隙传感器s输出的电阻的大小(波形w11)的变化。如图9的(b)所示，波形w11以在与由凹部2c构成的槽对应的部分变大的方式变化。
67.图10的(a)表示如由凹部2c构成的槽那样的缺陷的方向与滑块301的相对的行进方向d1所成的角度为45度的情况。另外，图10的(b)表示与磁盘2的记录面2a的槽对应的间隙传感器s输出的电阻的大小(波形w12)的变化。如图10的(b)所示，波形w12以在与由凹部2c构成的槽对应的部分变大的方式变化，但当与图9的(b)的情况进行比较时，通过槽的时间会变长，因此，该变化变为缓和。
68.图11的(a)表示如由凹部2c构成的槽那样的缺陷的方向与滑块301的相对的行进方向d1所成的角度为平行的情况。另外，图11的(b)表示与磁盘2的记录面2a的槽对应的间隙传感器s输出的电阻的大小(波形w13)的变化。如图11的(b)所示，波形w13与没有由凹部2c构成的槽的情况下的间隙传感器s的输出波形w14相比，大与槽的影响相应的量，被以一定的大小进行输出。
69.如图9、图10所示，在如由凹部2c构成的槽那样的缺陷的方向与滑块301的相对方向d1所成的角度大的情况下，能够根据间隙传感器s的输出来检测缺陷。另一方面，如图11所示，在如槽那样的缺陷的方向与滑块301的相对的行进方向d1所成的角度为平行的情况下，间隙传感器s的输出成为一定的时间变长，会如输出波形w13那样没有变化，无论怎样调整hpf的频率，都无法检测缺陷。
70.本实施方式的磁盘装置1通过使用在后面详细描述的检查电路100来进行检查，在如由凹部2c构成的槽那样的缺陷的方向与滑块301的相对的行进方向d1所成的角度为平行的情况下，也能够检测缺陷。
71.图12是表示检查电路100的电路构成的一个例子的图。
72.如图12所示，检查电路100为当通过间隙传感器电压施加部101对间隙传感器s施加电压时、其电阻值被输出至放大器102并且该输出由放大器102进行放大的构成，具有对通过该放大器102放大后的输出进行处理的两系统的处理部。第1系统的处理部(第1处理部)110包括lpf(低通滤波器：第1滤波器)111、放大器112、adc(模拟数字转换器)113、比较器114以及计数器115。第2系统的处理部(第2处理部)120包括hpf(第2滤波器)121、lpf122、放大器123、adc124、比较器125以及计数器126。
73.更详细而言，第1系统的处理部110用lpf111对放大器102的输出进行滤波处理，通过放大器112对该滤波处理后的输出进行放大。通过该放大器112放大后的输出被从放大器112输出至adc113和比较器114。在adc113中，模拟信号被变换为数字信号。该数字信号被发送至mpu14，被使用于间隙的调整处理等。另一方面，比较器114对放大器112的输出与阈值th(划痕(由凹部2c构成的槽)用的阈值)进行比较。在放大器112的输出比阈值th大的情况下，用计数器115进行计数。这样，第1系统的处理部110进行如下处理：能够经由lpf111得到间隙传感器s输出的信号，并且能够对超过了阈值th的数量进行计数。在本实施方式中，以磁道为单位进行该计数的处理。
74.另外，更详细而言，第2系统的处理部120在用hpf121对放大器102的输出进行了滤波处理之后，进一步用lpf121进行滤波处理，通过放大器123对该滤波处理后的输出进行放大。通过该放大器123放大后的输出被从放大器123输出至adc124和比较器125。在adc124中，模拟信号被变换为数字信号。该数字信号被发送至mpu14，被使用于间隙的调整处理等，这与第1系统的处理部的情况是同样的。另一方面，在比较器125中，对放大器123的输出与阈值th(凸块(突起部2b、凹部2c)用的阈值)进行比较。在放大器123的输出比阈值th大的情况下，用计数器126进行计数。这样，第2系统的处理部120进行如下处理：能够经由hpf121和lpf122得到间隙传感器s输出的信号，并且能够对超过了阈值th的数量进行计数。在本实施方式中，以磁道为单位进行该计数的处理，这与第1系统的处理部110的情况是同样的。
75.根据基于通过了第2系统的处理部120(hpf)的信号的计数器126的计数值，能够检测磁盘2的缺陷、突起部2b、凹部2c的急剧的变化，通过对基于通过了第1系统的处理部110(lpf)的信号(以下也称为lpf输出)的计数器115的计数器值(输出电平)进行监视，能够检测由凹部2c构成的槽等。
76.此外，在本实施方式中，以adc113、124设置于头放大器ic11的情况进行说明，但adc113、124也可以构成为设置在读写通道12。在这样构成的情况下，mpu14能够对波形自身进行加工处理，能够使检查电路100的构成简单。
77.接着，参照图13～图15对磁盘2的缺陷的检查方法进行说明。图13是用于对以磁道为单位检查缺陷的方法的一个例子进行说明的图，图14是表示以磁道为单位的间隙传感器s的输出(电阻的大小)的一个例子的图，图15是表示判定缺陷的处理的一个例子的流程图。
78.本实施方式的检查通过头放大器ic11的检查电路100来执行。另外，在缺陷与滑块301的相对方向d1成预定角度的情况下，如已经描述的那样，能够基于通过第2系统的处理部120的信号来检查磁盘2的缺陷。因此，以下对在缺陷(由凹部2c构成的槽)的方向与滑块301的相对的行进方向平行的情况下检测该缺陷的构成进行说明。
79.mpu14在检查磁盘2的缺陷的情况下，使滑块301以磁道为单位依次进行移动，检测在各磁道是否存在缺陷。更详细而言，如图13所示，mpu14使用滑块301，从磁道n-2起依次为
磁道n-1、n、n+1、n+2这样进行检查。此时，当算出通过了第1系统的处理部110的信号的各磁道1周的输出(lpf输出)的平均时，如图14所示，mpu14能够得到各磁道n-2、n-1、n、n+1-n+2处的间隙传感器s的输出。存在缺陷的磁道会呈现比其他磁道高的电阻值。在图14所示的例子中，仅磁道n的电阻值高，因此，mpu14能够检测出在磁道n存在缺陷这一情况。具体而言，对于电阻值是否高，在本实施方式中，mpu14通过根据预先推定为没有缺陷的多个磁道处的第1系统的处理部110的输出值的平均和偏差来确定阈值th(划痕用)，能够判定为在超过了该阈值th的磁道存在缺陷(由周向的凹部2c构成的槽)。
80.例如，该阈值th也可以使用与成为检查对象的磁道相邻的磁道处的lpf输出的输出值来进行确定。另外，例如，阈值th也可以考虑紧接着成为检查对象的磁道之前(上游)的多个磁道(例如3个磁道)的lpf输出的输出值的平均和其变动量来进行设定。进一步，例如也可以在成为检查对象的磁道与确定阈值th的多个磁道之间设置至少1个磁道以上的间隙。通过设置间隙，即使是在如lpf输出逐渐变化下去那样的情况下，也能够使lpf的输出值的影响最小化。
81.另外，mpu14也可以在检测到存在缺陷的磁道的情况下，将该磁道的lpf输出排除而定义阈值th。例如，mpu14也可以在对紧接着成为检查对象的磁道之前的3个磁道处的lpf输出的输出值进行平均来定义阈值th的情况下，当检测到在其中的一个磁道存在缺陷时，不采用该磁道的lpf输出，添加更上游的1个磁道处的lpf输出的输出值来定义阈值th。
82.接着，对判定缺陷的处理的详细进行说明。在本实施方式中，对根据紧接着成为检查对象的磁道之前的磁道处的lpf输出来定义阈值th，使用该定义的阈值th来按各磁道判定缺陷的存在的情况进行说明。
83.如图15所示，mpu14求出3个磁道的各lpf输出的平均值(平均输出值)和3个磁道的lpf输出的标准偏差(σ)(st101)。
84.接着，mpu14判定最大值(max)是否为平均值+n(n：自然数)
×
σ(st102)。更详细而言，mpu14判定3个磁道的lpf输出的最大值是否比在步骤st101中求出的平均值+n
×
σ小。在本实施方式中，n是3。
85.在判定为不小的情况下(st102：否)，mpu14使滑块301移动至其他磁道(st103)，反复进行步骤st101、st102的处理。由此，能够将存在缺陷的磁道的lpf输出等的无法评价的lpf输出排除掉。另一方面，在判定为小的情况下(st102：是)，mpu14将阈值th设为m(m：自然数)
×
σ(st104)。在本实施方式中，m为6。通过这样求出阈值th，mpu14能够将阈值th(划痕用)设定于存储器16的阈值存储部162。
86.接着，mpu14使滑块301移动k个磁道(st105)。在本实施方式中，mpu14使滑块301移动到要检查的最初的磁道。并且，mpu14判定最大磁道与检查磁道是否一致(st106)。也即是，判定磁盘2的全部磁道的检查是否已结束。在判定为一致的情况下(st106：是)，mpu14结束该处理。
87.另一方面，在判定为不一致的情况下(st106：否)，mpu14对该磁道判定是否存在缺陷(st107)。在判定为存在缺陷的情况下(st107：是)，存储缺陷位置(st108)。具体而言，mpu14使用已经描述的检查电路100，以磁道为单位判定第1系统的处理部110的lpf输出是否超过阈值th，在超过阈值th的情况下，将该磁道作为存在缺陷的磁道，存储于存储器16的缺陷位置存储部161。
88.并且，在结束了步骤st108的处理之后、或者在步骤st107中判定为不存在缺陷的情况下(st107：否)，处理返回步骤st105，mpu14使滑块301移动k个磁道、在本实施方式中为向下游侧移动1个磁道，执行已经描述的步骤st107、st108的处理。
89.根据如上所述那样构成的磁盘装置1，能够在基于从间隙传感器s输出的输出值，使用第1系统的处理部110和第2系统的处理部120来检查磁盘2的记录面2a的缺陷的情况下，对根据排除了成为检查对象的磁道的多个磁道的第1系统的处理部110的输出(lpf输出)定义的阈值th(划痕用)与成为检查对象的磁道的第1系统的处理部110的输出(lpf输出)进行比较，在成为检查对象的磁道的lpf输出超过阈值th的情况下，检测出在磁盘2的该磁道存在缺陷这一情况。因此，磁盘装置1能够准确地检测沿着磁盘2上的磁道的缺陷(由凹部2c构成的槽)。
90.另外，磁盘装置1通过将所检测到的缺陷位置(磁道)存储于存储器16的缺陷位置存储部161，能够在出厂后将该缺陷位置排除掉来对存储区域进行格式化。
91.进一步，磁盘装置1能够将阈值th存储于阈值存储部162。因此，在磁盘装置1出厂后，磁盘装置1能够在预定的定时利用该阈值th来进行磁盘2的缺陷的检查。这样，在出厂后进行检查，在新检测到磁盘2的缺陷的情况下，磁盘装置1通过将检测到该缺陷的位置存储于缺陷位置存储部161，能够对缺陷位置存储部161进行更新，并且，能够将该缺陷位置从存储区域排除掉。
92.此外，在上述实施方式中，以缺陷为由沿着周向的凹部2c构成的槽的情况进行了说明，但成为对象的缺陷并不限于此。例如即使是在为由沿着周向的突起部2b构成的毛刺的情况下，也仅是从第1系统的处理部110输出的lfp输出的电平不同，因此，通过追加同样地求出与突起部2b相应的阈值并判定是否低于该阈值的处理部，磁盘装置1能够对沿着周向的突起部2b(例如毛刺)进行检测，将存在突起部2b的磁道判定为存在缺陷的磁道。
93.(第2实施方式)
94.第2实施方式不是以磁道为单位检测磁盘2的缺陷，而是以扇区为单位检测磁盘2的缺陷，这一点与第1实施方式不同。因此，对以扇区为单位检测缺陷的构成以及处理进行详细的说明。此外，对与第1实施方式相同的构成赋予同一标号，关于这些构成，省略详细的说明。
95.当磁盘2的缺陷为如由沿着磁道的周向的凹部2c构成的槽那样的缺陷时，也存在该槽的长度有限的情况。例如，也考虑当磁道由多个扇区构成时、缺陷容纳在1个扇区内的情况。在该情况下，也设想如下情形：当对1个磁道内的lpf输出进行平均化时，输出电平变小，因此，检测灵敏度变差，变为无法检测缺陷的存在。因此，在本实施方式中，磁盘装置1通过以扇区为单位保持lpf输出，与第1实施方式同样地以扇区为单位定义阈值th，对该阈值th与各扇区的lpf输出进行比较，由此，能够检测周向的短缺陷。
96.图16是表示判定缺陷的处理的一个例子的流程图。此外，除了步骤st201～st204的处理是以扇区为单位、而步骤st101～st104的处理是以磁道为单位之外，分别是同样的处理，因此，省略步骤st201～st204的处理的说明，从步骤st205的处理开始说明。另外，在本实施方式中，以用3个扇区定义阈值的情况进行说明，但也可考虑由于以扇区为单位时能得到的lfp输出短，因此，由于产生噪声而无法定义适当的阈值th。因此，例如，mpu14也可以为使用3个磁道的全部扇区的lfp输出来定义阈值。由此，在以扇区为单位检查缺陷的情况
下，也能够定义噪声不影响的阈值th。
97.在步骤st205中，mpu14使滑块301移动k个磁道。在本实施方式中，mpu14使滑块301移动至最初检查的磁道。并且，mpu14判定最大扇区与检查扇区是否一致(st206)。也即是，判定磁盘2的全部磁道所包含的扇区的检查是否已结束。在判定为一致的情况下(st206：是)，mpu14结束该处理。
98.另一方面，在判定为不一致的情况下(st206：否)，mpu14对于该磁道的各扇区判定是否存在缺陷(st207)，在判定为存在缺陷的情况下(st207：是)，存储缺陷位置(st208)。具体而言，mpu14使用已经描述的检查电路100，以扇区为单位判定lpf输出是否超过阈值th，在超过阈值th的情况下，将该扇区作为存在缺陷的扇区，并存储于存储器16的缺陷位置存储部161(st208)。
99.并且，在结束了步骤st208的处理之后、或者在步骤st207中判定为不存在缺陷的情况下(st207：否)，处理返回步骤st205，mpu14使滑块301移动k个磁道、在该情况下为向下游侧移动1个磁道，执行已经描述的步骤st206～st208的处理。
100.图17是表示检查结果的一个例子的图。纵轴是进行了标准化后的间隙传感器s的电阻值，横轴是扇区编号。如图17所示，超过了阈值th与磁道n的扇区编号m(在图示中为由标号p1表示的扇区编号200)对应的电阻值的量。
101.图18是表示基于图17的检查结果存储于缺陷位置存储部161的信息200的一个例子的图。如图18所示，以磁道为单位表示各扇区的检查结果。在本实施方式中，示出根据图17的检查结果而在磁道n的扇区m存在缺陷。
102.根据图17、图18可知：在磁盘2中，在磁道n的扇区m-1、扇区m+1不存在缺陷，在磁道n的扇区m存在缺陷，因此，该缺陷是由沿着周向的该扇区内的短的凹部2c构成的槽。
103.这样，即使将磁盘装置1进行检查的单位变更为以扇区为单位，也能够实现与上述第1实施方式同样的效果。
104.此外，对本发明的几个实施方式进行了说明，但这些实施方式是作为例子提示的，并不是意在限定发明的范围。这些新的实施方式能够以其他各种各样的方式来实施，能够在不脱离发明的宗旨的范围内进行各种省略、置换、变更。这些实施方式及其变形包含在发明的范围、宗旨内，并且，包含在权利要求书所记载的发明及其等同的范围内。

技术特征：

1.一种磁盘装置的磁盘检查方法，所述磁盘装置具备：磁盘；滑块，其包括从所述磁盘读取数据的读取头、向所述磁盘写入数据的写入头、对所述读取头或者所述写入头与所述磁盘的间隙进行调整的热致动器以及对所述间隙进行检测的间隙传感器；前置放大器，其包括第1处理部和第2处理部，所述第1处理部具有以预定频率对所述间隙传感器的输出进行滤波的第1滤波器，所述第2处理部具有以比所述第1滤波器的频率高的频率对所述间隙传感器的所述输出进行滤波的第2滤波器；以及控制部，其控制所述滑块对所述磁盘的读/写，所述磁盘检查方法包括：在基于所述间隙传感器的输出，使用所述第1处理部和所述第2处理部来检查所述磁盘的记录面的缺陷的情况下，对根据排除了成为检查对象的磁道之后的多个磁道的所述第1处理部的输出而定义的阈值与成为所述检查对象的磁道的所述第1处理部的输出进行比较，当成为所述检查对象的磁道的所述第1处理部的输出超过所述阈值时，检测出在所述磁盘的该磁道存在缺陷。2.根据权利要求1所述的磁盘装置的磁盘检查方法，定义所述阈值的所述多个磁道是成为所述检查对象的所述磁道的上游侧的磁道。3.根据权利要求1所述的磁盘装置的磁盘检查方法，定义所述阈值的所述多个磁道和成为所述检查对象的所述磁道具有一个磁道以上的间隔。4.根据权利要求1所述的磁盘装置的磁盘检查方法，所述缺陷是沿着所述磁道的周向的凹部。5.根据权利要求1所述的磁盘装置的磁盘检查方法，还包括：在检测到存在所述缺陷的情况下，存储检测到该缺陷的存在的所述磁道的位置。6.根据权利要求5所述的磁盘装置的磁盘检查方法，检测到所述缺陷的存在的磁道的由所述第1处理部进行了滤波后的输出被从定义所述阈值的所述多个磁道排除掉。7.根据权利要求1所述的磁盘装置的磁盘检查方法，所述磁道由多个扇区构成，所述阈值根据排除了成为检查对象的扇区之后的多个扇区的所述第1处理部的输出来定义，在基于所述间隙传感器的输出，使用所述第1处理部和所述第2处理部来检查所述磁盘的记录面的缺陷的情况下，所述比较以所述磁道所包括的所述扇区为单位来进行，所述检测在成为所述检查对象的扇区的所述第1处理部的输出超过所述阈值时，判定为在所述磁盘的该扇区存在缺陷。8.根据权利要求7所述的磁盘装置的磁盘检查方法，还包括：
在检测到存在所述缺陷的情况下，存储检测到该缺陷的所述扇区的位置。9.一种磁盘装置，具备：磁盘；滑块，其包括从所述磁盘读取数据的读取头、向所述磁盘写入数据的写入头、对所述读取头或者所述写入头与所述磁盘的间隙进行调整的热致动器以及对所述间隙进行检测的间隙传感器；前置放大器，其包括第1处理部和第2处理部，所述第1处理部具有以预定频率对所述间隙传感器的输出进行滤波的第1滤波器，所述第2处理部具有以比所述第1滤波器的频率高的频率对所述间隙传感器的所述输出进行滤波的第2滤波器；以及控制部，其控制所述滑块对所述磁盘的读/写，在基于所述间隙传感器的输出，使用所述第1处理部和所述第2处理部来检查所述磁盘的记录面的缺陷的情况下，所述前置放大器包括检查部，所述检查部对根据排除了成为检查对象的磁道之后的多个磁道的所述第1处理部的输出定义的阈值与成为所述检查对象的磁道的所述第1处理部的输出进行比较，当成为所述检查对象的磁道的所述第1处理部的输出超过所述阈值时，检测出在所述磁盘的该磁道存在缺陷。

技术总结

实施方式提供能够准确地检测磁盘上的缺陷的磁盘装置的磁盘检查方法以及磁盘装置。实施方式的磁盘装置具有前置放大器，该前置放大器具有第1处理部和第2处理部，该第1处理部具有以预定频率对间隙传感器的输出进行滤波的第1滤波器，该第2处理部具有以比第1滤波器的频率高的频率对间隙传感器的输出进行滤波的第2滤波器。该磁盘装置在基于间隙传感器的输出，使用第1处理部和第2处理部来检查磁盘的记录面的缺陷的情况下，对根据排除了成为检查对象的磁道之后的多个磁道的第1处理部的输出定义的阈值与成为检查对象的磁道的所述第1处理部的输出进行比较，当成为检查对象的磁道的第1处理部的输出超过阈值时，检测出在磁盘的该磁道存在缺陷。磁道存在缺陷。磁道存在缺陷。