中央大學物理系強場物理與超快技術實驗室
本單位對於廠商所提供之光學元件樣品，會統一針對其「反射率」、「表面平整度」、「損壞閾值」以及「散」四項規格進行測試，以確認其品質達到投標規格書所宣稱之規格，並符合招標文件之要求。通過此四項測試之光學元件，本實驗室將開立合格證明。其測試流程如下： (1) 平均反射率測量：KDYTT
[1] 選擇對應波長的雷射系統為光源。
[2] 依照待測元件之工作角度與入射光極化方向，將雷射光導入待測元件。
[3] 以雷射功率計量測入射光與反射光的功率，二者相除即得到平均反射率。
[4] 測量結果符合原訂規格者為合格。
(2) 寬頻反射率測量：
[1] 將前項之雷射功率計更換為光譜儀，測量入射光與反射光之光譜，二者相除即得到反射率對波長曲線圖。
[2] 測量結果符合原訂規格者為合格。
2. 表面平整度測量 (surface flatness)
(1) 本實驗室備有麥克森式干涉儀，將待測元件置於干涉儀的第一分支光路，其反射光與第二分支光路干涉形成干涉紋圖，以CCD攝影機擷取此干涉紋，計算其干涉紋之偏移量，即得到待測元件之表面平整度。
(2) 測量結果高於或是等於原訂規格者為合格。
3. 損壞閾值測量 (damage threshold)
(1) 本實驗室備有兩種高能脈衝雷射系統，第一種為Q開關之倍頻摻釹釔鋁石榴石 (Nd:YAD) 雷射系統，其可以提供能量2.5 J、波長1064 nm、脈衝時寬10 ns或是能量1.4 J、波長532 nm、脈衝時寬10 ns的高能雷射脈衝。第二種為被動鎖模鈦藍寶石 (Ti:Sapphire) 雷射系統，其可以提供能量最高3 J、波長800 nm與900 nm、脈衝時寬30 fs
或是200 ps的高能雷射脈衝。
(2) 選擇適當之雷射系統，利用透鏡將其輸出光束聚焦於待測元件上，然後逐步增加雷射能量，使其光通量仿形车床(fluence)或是光強度(intensity)達到損壞閾值的規格。
(3) 連續轟擊待測元件半個小時，測試其耐久度。
(4) 連續轟擊半個小時後而無任何損壞者為合格。
水上步行器(5) 若無適當之雷射系統(輸出波長與脈衝時寬不同)，則選用相近波長與脈衝時寬的雷射測試。對於波長與脈衝時寬改變而導致其損壞閾值的變化，由以下公式換算：
其中D為損壞閾值，λ為入射光波長，τ為脈衝時寬。
4. 散測量 (dispersion)
(1) 本實驗室備備有頻率解析光閘(frequency-resolved optical gating, FROG)，可以精確測量超快雷射脈衝在頻譜上的強度與相位。
(2) 使用鈦藍寶石雷射系統輸出之30 fs超快雷射脈衝，依照待測元件之工作角度與入射光極化方向，將雷射光導入待測元件。
(3) 以頻率解析光閘分別測量入射脈衝與反射脈衝在頻譜上的相位，二者相減即為待測元件的散量，對此散量以其中心頻率做泰勒展開式，即可得到各階散值。
(4) 測量所得之每一階散值都小於或是等於原訂規格者為合格。
5. 以上四項測試，除因光學元件之種類不同而免測試之項目外，若有任何一項未達合格標準，則此元件測試總結果為不合格。
中央大學物理系強場物理與超快技術實驗室
光學元件測試合格證明書
測試項目 | 設 定 | 測試結果 |
反射率
reflectivity | 雷射系統：
入射光功率：
反射光功率：
平均反射率：
反射率 vs. 波長： | □ 合格 □ 不合格 |
表面平整度
surface flatness | 表面平整度： | □ 合格 □ 不合格 |
損壞閾值
damage threshold | 雷射系統：
波長： 脈衝時寬： 光束截面大小：
入射光功率：
光通量 (J/cm2)：
光強度 (W/cm2)小区自动售水机： | □ 合格 □ 不合格培养基的制备 |
散
dispersion | 二階散：
三階散：
四階散：
单面铜基板 | □ 合格 □ 不合格 |
總結果 | | □ 合格 □ 不合格 |
| | |
測試日期________________
測試人員簽名________________
強場物理與超快技術實驗室總監________________
豫公网安备41160202000603
站长QQ:729038198
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