一种电芯极耳定位结构的制作方法

1.本实用新型涉及电芯极耳领域，尤其涉及一种电芯极耳定位结构。

背景技术：

2.在聚合物锂离子电芯生产过程中，ocv工序自动化生产设备转盘机的测试机构，需要对被测试锂离子电芯的正负极耳进行定位，由于锂离子电芯极耳分为单坑、双坑和反面三种结构，如图1所示，其极耳位于电芯厚度方向上的高度不统一，传统方式是上端顶针和下端高度位置被固定住的铜块组合而成，这种定位方式受下端铜块高度被固定住的影响，当在生产不同型号锂离子电芯时由于电芯极耳与铜块不在同一平面经常将电芯极耳压折成直角状，如图2所示，特别是铝极耳因为铝质较软在上端顶针下压测试时容易被上端弹簧顶针划伤，造成电芯极耳划伤不良；如何消除机构下端测试铜块与电芯极耳不在同一平面，顶针下压测试时造成极耳划伤的影响成为一个亟待解决的问题。

技术实现要素：

3.一、要解决的技术问题
4.为了解决现有技术的上述问题，本实用新型提供一种电芯极耳定位结构，能够有效避免极耳测试时被折弯以及减少极耳划伤。
5.二、技术方案
6.为了达到上述目的，本实用新型采用的主要技术方案包括：
7.一种电芯极耳定位结构，包括
8.放置平台，其用于放置电芯主体；
9.极耳定位平台，其活动设置在放置平台一侧沿竖直方向调节高度以支撑在电芯极耳下底面以避免电芯极耳折弯；
10.弹簧顶针，其活动设置在电芯极耳上表面配合测试机构实现电芯测试。
11.进一步的，所述放置平台上设有若干并排设置的电芯限位槽。
12.进一步的，所述极耳定位平台上设有与电芯极耳下底面相配合的铜块。
13.进一步的，所述极耳定位平台与测试机构上的固定底座活动连接。
14.进一步的，所述测试机构用于ocv测试。
15.进一步的，所述极耳定位平台中部设有高度调节螺丝。
16.进一步的，所述高度调节螺丝与极耳定位平台螺纹连接；所述高度调节螺丝底部抵扣在固定底座上表面。
17.进一步的，所述高度调节螺丝两侧对称设有固定调节螺丝；所述固定调节螺丝的螺纹部贯穿极耳定位平台后与固定底座螺纹连接。
18.进一步的，所述高度调节螺丝上位于极耳定位平台上表面设有紧固螺母。
19.进一步的，所述弹簧顶针内部设有弹簧缓冲装置。
20.三、有益效果
21.本实用新型的有益效果是：通过可上下活动调节的极耳定位平台，以弥补极耳位置的高度差，从而有效的避免在电芯测试时顶针下压对极耳造成的折弯。通过弹簧顶针内部设置的弹簧缓冲装置，降低测试时弹簧顶针下压时对极耳瞬间冲击造成的冲压划痕。电芯极耳定位机构结构简单易于调整和型替，有效缩短调整和型替时间。
附图说明
22.为了更清楚地说明本实用新型实施方式的技术方案，下面将对实施方式中所需要使用的附图作简单地介绍，应当理解，以下附图仅示出了本实用新型的某些实施例，因此不应被看作是对范围的限定，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他相关的附图。
23.图1是现有技术电芯极耳结构示意图；
24.图2是电芯极耳折弯缺陷示意图；
25.图3是本实用新型结构示意图；
26.图4是本实用新型结构截面图；
具体实施方式
27.为使本实用新型实施方式的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本实用新型实施方式中的附图，对本实用新型实施方式中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施方式是本实用新型一部分实施方式，而不是全部的实施方式。基于本实用新型中的实施方式，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施方式，都属于本实用新型保护的范围。因此，以下对在附图中提供的本实用新型的实施方式的详细描述并非旨在限制要求保护的本实用新型的范围，而是仅仅表示本实用新型的选定实施方式。基于本实用新型中的实施方式，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施方式，都属于本实用新型保护的范围。
28.在本实用新型的描述中，需要说明的是，术语“上”、“下”、“内”、“外”“前端”、“后端”、“两端”、“一端”、“另一端”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性。
29.在本实用新型的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“设有”、“连接”等，应做广义理解，例如“连接”，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。
30.实施例一，请参照图3-4所示：
31.一种电芯极耳定位结构，包括
32.放置平台4，其用于放置电芯10；
33.极耳定位平台5，其活动设置在放置平台4一侧沿竖直方向调节高度以支撑在电芯极耳11下底面以避免电芯极耳11折弯；
34.弹簧顶针2，其活动设置在电芯极耳11上表面配合测试机构1实现电芯10测试；
35.所述极耳定位平台5上设有与电芯极耳11下底面相配合的铜块3；所述极耳定位平台5与测试机构1上的固定底座9活动连接；所述极耳定位平台5中部设有高度调节螺丝6；所述高度调节螺丝6与极耳定位平台5螺纹连接；所述高度调节螺丝6底部抵扣在固定底座9上表面；
36.由于现有测试设备不具备调节功能，因此铜块3的高度与电芯极耳11之间的高度无法完全配合，使得弹簧顶针2下压时会造成电芯极耳11的折弯。通过设置高度调节螺丝6能够快速的调节极耳定位平台5的高度，高度调节螺丝6底部抵扣在固定底座9上表面通过旋转高度调节螺丝6从而调整极耳定位平台5的高度，进而抵消电芯极耳11与铜块3间的高度差。
37.本实用新型的一实施例中，所述放置平台4上设有若干并排设置的电芯限位槽。通过设置若干电芯限位槽从而可以同时实现对多个电芯10的测试，提升效率。
38.本实用新型的一实施例中，所述测试机构1用于ocv测试。
39.本实用新型的一实施例中，由于上述实施例中的高度调节是通过高度调节螺丝6来实现，但是存在一个问题，由于高度调节螺丝6只有单根螺丝，其调节时的稳定性无法达到最佳效果，可能存在混动的情况，一种解决方式是在高度调节螺丝6底部设置支撑座，从而加大底部与固定底座9上表面的接触面积，但该方式的稳定性依然无法达到最佳。因此可以在所述高度调节螺丝6两侧对称设有固定调节螺丝8；所述固定调节螺丝8的螺纹部贯穿极耳定位平台5后与固定底座9螺纹连接。此种方式的好处是从两侧实现了极耳定位平台5的限位，使其在被弹簧顶针2挤压时不会产生晃动。另一方面高度调节螺丝6给极耳定位平台5一个向上的支撑力，通过向下旋紧固定调节螺丝8，会给极耳定位平台5一个向下的压力，从而实现了极耳定位平台的固定，并且能够根据实际情况具体调节整体的高度，不会产生晃动。
40.本实用新型的一实施例中，所述高度调节螺丝6上位于极耳定位平台5上表面设有紧固螺母7。设置紧固螺母7的好处是能够进一步的提升高度调节螺丝6与极耳定位平台5之间的连接稳定性，并且实现更好的限位效果。
41.本实用新型的一实施例中，所述弹簧顶针2内部设有弹簧缓冲装置。
42.本实用新型通过可上下活动调节的极耳定位平台，以弥补极耳位置的高度差，从而有效的避免在电芯测试时弹簧顶针下压对极耳造成的折弯。通过弹簧顶针内部设置的弹簧缓冲装置，降低测试时弹簧顶针下压时对极耳瞬间冲击造成的冲压划痕。
43.以上所述仅为本实用新型的实施例，并非因此限制本实用新型的专利范围，凡是利用本实用新型说明书及附图内容所作的等同变换，或直接或间接运用在相关的技术领域，均同理包括在本实用新型的专利保护范围内。

技术特征：

1.一种电芯极耳定位结构，其特征在于：包括放置平台，其用于放置电芯主体；极耳定位平台，其活动设置在放置平台一侧沿竖直方向调节高度以支撑在电芯极耳下底面从而避免电芯极耳折弯；弹簧顶针，其活动设置在电芯极耳上表面配合测试机构实现电芯测试。2.根据权利要求1所述的一种电芯极耳定位结构，其特征在于：所述放置平台上设有若干并排设置的电芯限位槽。3.根据权利要求2所述的一种电芯极耳定位结构，其特征在于：所述极耳定位平台上设有与电芯极耳下底面相配合的铜块。4.根据权利要求3所述的一种电芯极耳定位结构，其特征在于：所述极耳定位平台与测试机构上的固定底座活动连接。5.根据权利要求4所述的一种电芯极耳定位结构，其特征在于：所述测试机构用于ocv测试。6.根据权利要求4所述的一种电芯极耳定位结构，其特征在于：所述极耳定位平台中部设有高度调节螺丝。7.根据权利要求6所述的一种电芯极耳定位结构，其特征在于：所述高度调节螺丝与极耳定位平台螺纹连接；所述高度调节螺丝底部抵扣在固定底座上表面。8.根据权利要求7所述的一种电芯极耳定位结构，其特征在于：所述高度调节螺丝两侧对称设有固定调节螺丝；所述固定调节螺丝的螺纹部贯穿极耳定位平台后与固定底座螺纹连接。9.根据权利要求7所述的一种电芯极耳定位结构，其特征在于：所述高度调节螺丝上位于极耳定位平台上表面设有紧固螺母。10.根据权利要求1所述的一种电芯极耳定位结构，其特征在于：所述弹簧顶针内部设有弹簧缓冲装置。

技术总结

本实用新型涉及一种电芯极耳定位结构，包括放置平台，其用于放置电芯主体；极耳定位平台，其活动设置在放置平台一侧沿竖直方向调节高度以支撑在电芯极耳下底面以避免电芯极耳折弯；弹簧顶针，其活动设置在电芯极耳上表面配合测试机构实现电芯测试。本实用新型通过可上下活动调节的极耳定位平台，以弥补极耳位置的高度差，从而有效的避免在电芯测试时弹簧顶针下压对极耳造成的折弯。通过弹簧顶针内部设置的弹簧缓冲装置，降低测试时顶针下压时对极耳瞬间冲击造成的冲压划痕。耳瞬间冲击造成的冲压划痕。耳瞬间冲击造成的冲压划痕。