xrd-sem等材料分析方法试题库
xrd-sem等材料分析⽅法试题库
材料现代分析⽅法试题库
⼀、填空
1、第⼀个发现X射线的科学家是，第⼀个进⾏X射线衍射实验的科学家是。 2、X射线的本质是，其波长为。
3、X射线本质上是⼀种______________，它既具有_____________性，⼜具有____________性，X射线衍射分析是利⽤了它的__ ____________。
4、特征X射线的波长与和⽆关。⽽与有关。
5、X射线⼀⽅⾯具有波动性，表现为具有⼀定的，另⼀⽅⾯⼜具有粒⼦性，体现为具有⼀定的，⼆者之间的关系为。
6、莫塞来定律反映了材料产⽣的与其的关系。
7、从X射线管射出的X射线谱通常包括和。
育苗袋8、当⾼速的电⼦束轰击⾦属靶会产⽣两类X射线，它们是_____________和_____________，其中在X射线粉末衍射中采⽤的是____ _______ 。
9、特征X射线是由元素原⼦中___________引起的，因此各元素都有特定的___________和___________电压，特征谱与原⼦序数之间服从_____ ______定律。
10、同⼀元素的⼊Kα1、⼊Kα2、⼊Kβ的相对⼤⼩依次为___________；能量从⼩到⼤的顺序是_______________。(注：⽤不等式标出)
11、X射线通过物质时，部分X射线将改变它们前进的⽅向，即发⽣散射现象。X射线的散射包括两种：和。
12、hu+kv+lw=0关系式称为______________ ，若晶⾯(hkl)和晶向[uvw]满⾜该关系式，表明
__________________________________ 。
式中，为倒易点阵基⽮，为正点阵基⽮
的对应关系建⽴的空间点阵。在这个倒易点阵中，倒易⽮量的坐标表达式为，其基本性质为
。
14、X射线在晶体中产⽣衍射时，其衍射⽅向与晶体结构、⼊射线波长和⼊射线⽅位间的关系可⽤_ _____ ______、____
___________、________________和____________________四种⽅法来表达。
15、当波长为λ的X射线照射到晶体并出现衍射线时，相邻两个（hkl）反射线的波程差是，相邻两个（HKL）反射线的波程差是。
16、布拉格公式λ=2dsinθ中λ表⽰，d表⽰，θ表⽰。
17、获得晶体衍射花样的三种基本⽅法是、、
。
18．获得晶体衍射花样三种基本的⽅法中，劳埃法是通过改变来获得衍射花样的，主要⽤于判断；旋
转单晶法是旋转晶体，改变来获得衍射花样的，主要⽤于研究；粉末法是通过单⾊X射线照射多晶体样品，改变来产⽣衍射的，测定样品的。
19、当X射线照射在⼀个晶体时，产⽣衍射的必要条件是_______________,⽽产⽣衍射的充要条件是
_________________________ _ _________ 。
20、X射线的衍射的强度主要取决于和。
21、X射线衍射仪探测器主要性能是、、
、、。
22、测⾓仪在⼯作时，为了使样品与计数管始终在同⼀个____ _______上，⼆者的转速必须保持____________。
23、测⾓仪在采集衍射图时，如果试样表⾯转到与⼊射线成300⾓，则计数管与⼊射线所成⾓度为；能产⽣衍射的晶⾯，与试样的⾃由表⾯呈关系。
模压制品24、粉末照相法底⽚安装⽅法有三种：、
和。
25、粉末衍射仪法衍射峰2θ⾓的测量⽅法有、、
。
26、多晶X射线粉末衍射分析⽅法通常有和两种。
27．X射线衍射仪的新进展主要有、、
三个⽅⾯。
28、PDF卡⽚的⼆种常⽤的数值索引是____ _____索引和____ _____索引，前者是按衍射线的_________顺序排列的，后者是按衍射线的_________顺序排列的。
29、利⽤衍射卡⽚鉴定物相的主要依据是______ _____，参考_____ ______。
30、X射线衍射定量分析的⽅法有、、
、、。
31、精确测定点阵参数校正或消除误差常⽤的有哪三种⽅法？有、、三种⽅法。
32、X射线衍射仪测定宏观应⼒的⽅法主要有和两种。
33、为了测得材料表⾯沿某个⽅向上的宏观应⼒，⾄少要测_______个⽅向上某晶⾯的晶⾯间距，相应的⽅法称为
_____________ 。
34、织构表⽰⽅法有、、三种
35、计算机技术在多晶体衍射中的应⽤主要有三个⽅⾯：①、
②、③。
<
36、光学显微镜是可见光束通过光学透镜发⽣达到放⼤的⽬的，⽽成像于；电⼦显微镜是电⼦束通过电磁场（电⼦透镜） 发⽣达到放⼤的⽬的，并成像于。
37、电镜中透镜分辨本领取决于和
。
38、波谱仪分析的元素范围为，能谱分析的元素范围为。
39、扫描电镜图像的分辨率决定于和
。
40、透射电镜中的电⼦光学系统可分为、和
三部分。
41、倒易⽮量的长度等于正点阵中。
42、爱⽡尔德球图解法是的⼏何表达形式。
43、电⼦衍射基本公式R = λLg 中的R表⽰，λ表⽰，L 表⽰，g表⽰。
44、谱仪的分辨率是的能⼒。
45、电⼦波长与其加速电压平⽅根成，加速电压越，电⼦波长越。
46、透射电镜粉末样品制备⽅法有和。
47、复杂电⼦衍射花样通常包括、、
、、。
48、电⼦探针X射线显微分析中常⽤X射线谱仪有和。
49、光电⼦发射可以分为三个过程，即（1）；
（2）；（3）。
50、像差分为和两类。
51、⾦属薄膜制备过程⼤体是：、、
。
52、X射线光电⼦能谱是测定低能电⼦的动能从⽽得到光电⼦的。
53、真正能够保持其特征能量⽽逸出表⾯的俄歇电⼦却仅限于表层以下nm的深度范围。
54、透射电镜的主要性能指标是、和。
55、透射电镜成像系统中，若使中间镜物平⾯与物镜像平⾯重合的操作称为
操作；⽽使中间镜的物平⾯与物镜背焦⾯重合的操作称为操作。
56、扫描电镜由、、、
、和等部分组成。
57、扫描电镜中样品制备的镀膜⽅法主要有两种：⼀种是，另⼀种⽅法是。
58、电⼦探针显微分析有四种基本分析⽅法：、
、和。
寿司模具59、电⼦衍射成像中所指的双光束是和。
60、TEM中物镜的作⽤是。
中间镜在成像时的作⽤是，
。
61、衡量透镜的性能优劣的指标是，它取决于
。
62、TEM的电⼦光学系统是由
组成的。
63、平⾏于膜⾯的层错衬度特征是，
倾斜与膜⾯的层错衬度特征是。
64、影响SEM分辨率的主要因素有.
。
65、通常SEM的分辨率是指，其成像衬度原理
为。
66、完整晶体和不完整晶体运动学理论衍射振幅的表达式为:
（完整晶体）
（不完整晶体）对于给定的缺陷，R(x,y,z)是确定的，g是⽤于成像的操作反射，令N = g?R，则缺陷是否可见的重要判据是；各类型位错衬度消失的⼀个实际可⾏的有效判据是。
67、消光距离ξg是指 .
。
68、结构消光是指.
. 。
69、电⼦衍射的相机常数为，其物理含义是。
70、衡量透镜的性能优劣的指标是，它取决于
。
71、商品TEM的三个主要指标是、、。
72、制备复型的材料应具备的性质要求是.
. 。
73、双光束衍射条件是.
。
74、产⽣电⼦衍射的必要条件是，
充分条件是。
75、电⼦衍射的相机常数为，其物理含义
是。
76、苯环的红外光谱吸收峰主要可能出现在 cm-1, cm-1, cm-1, cm-1 ; 其紫外主要吸收的位置在。
77、判断苯环上取代基数量和位置的两处吸收带分别在 cm-1和
cm-1；苯环的紫外特征吸收波长在nm。
78、下表列出⼏个红外吸收的波数，请填⼊相应的可能存在的基团。
79、紫外光谱由能级跃迁产⽣，⽽红外光谱
由能级跃迁产⽣。
80、羰基连在苯环上，则吸收峰从cm-1变为cm-1，原因是。
81、样品在cm-1和cm-1有吸收峰，则可能含有⽔，进⼀步检验是否有⽔的办法有：。
82、影响红外光谱吸收峰位置的主要因素有：，，，
，，。
83、凝胶⾊谱的紫外检测器可适于检测以下类型的材料：，，
。
84、拉曼光谱与红外光谱在数值相等，但选律不同，前者适合于研究
，后者则适合于研究。
⼆、选择题
1、特征X射线产⽣的机理是：（）
女用站式小便器①⾼速电⼦受阻②原⼦内层电⼦跃迁③外层电⼦被打掉。
2、X射线连续谱中存在⼀个短波极限，其波长⼊＝（）
①1.24/V(千伏) nm ②12.4/V(千伏) nm ③12.4/伏nm
3、滤波的⽬的是：( )
①避免荧光辐射②获得K系单⾊③防⽌光电效应
4、物质对X射线的吸收主要是由（）
①散射②热效应③光电效应引起的
5、吸收因⼦A（θ）越⼤，则X射线衍射累积强度( )
①越⼤②越⼩③不影响
6、在debye照相法中，不受底⽚收缩影响的底⽚安装⽅法是（）
①正装②反装③不对称
7、电⼦从L层跃迁到K层的⼏率⽐从M层跃迁到K层的⼏率约⼤（）
①5倍②3倍③7倍
8、宏观内应⼒对X射线衍射花样的影响是：（）
①衍射线加宽②衍射线⾓位移③衍射线强度减弱④衍射增多
9、系统消光规律中同种原⼦体⼼晶胞的晶⾯存在衍射的是（）。
①(110) ②(203) ③(100)
10、在点阵参数精测中，应尽可能选择( )衍射线。
①⾼强度②相邻③⾼⾓度
11、通过透镜中⼼且与主轴垂直的平⾯叫做（）。
①焦平⾯②透镜主平⾯③像平⾯
12、由电磁透镜磁场中近轴区域对电⼦束的折射能⼒与远轴区域不同⽽产⽣的的像差，称为（）。
①球差②像散③⾊差
13、在透射电镜中称为衬度光阑的是（）。
①聚光镜光阑②物镜光阑③选区光阑
图像型火焰探测器
14、把透镜物平⾯允许的轴向偏差定义为透镜的（）。
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