首页 > TAG信息列表 > 隐裂
  • 柔性支架支撑的光伏组件隐裂的检测方法及装置[发明专利]
    (19)中华人民共和国国家知识产权局(12)发明专利申请(10)申请公布号 (43)申请公布日 (21)申请号 201810181921.0(22)申请日 2018.03.06(71)申请人 中清能绿洲科技股份有限 102600 北京市大兴区金星西路5号绿地中央广场A座16层(72)发明人 徐志宏 侯国华 石建春 张志强 (74)专利代理机构 北京超凡志成知识产权代理事务所(普通合伙) 1
    时间:2024-02-04  热度:14℃
  • 什么是光伏组件隐裂?如何检测?
    dr探测器什么是光伏组件隐裂?如何检测?近⼏年,晶硅组件⼚家为了降低成本,晶硅组件越做越薄,从⽽降低了电池⽚防⽌机械破坏的能⼒,从⽽导致了在运输和安装过程中组件隐裂的产⽣,下⾯让我们详细的了解下组件的隐裂。什么是光伏组件隐裂?光伏组件检测隐裂是指电池⽚(组件)受到较⼤的机械或热应⼒时,可能在电池单元产⽣⾁眼不易察觉的隐性裂纹。根据电池⽚隐裂的形状,可分为5类:树状裂纹、综合型裂纹、斜裂纹、平⾏于主
    时间:2023-11-16  热度:25℃
  • 电池片焊带背板玻璃硅胶接线盒边框光伏组件常见问题及修复
    电池片焊带背板玻璃硅胶接线盒边框光伏组件常见问题及修复光伏电池组件  来源:光伏們  作者:马召宁  2019/11/5 8:38:37  作为光伏电站中最重要的设备,组件出现各种各样问题的频率相对较高,其中有些可以修复,有些无法修复。在中国光伏行业协会、光伏們主办的第四届光伏发电运营及后服务研讨会上,Intertek天祥集团大客户经理马召宁就光伏组件常见问
    时间:2023-08-30  热度:14℃
  • 光伏组件常见质量问题与安装要点
    光伏组件常见质量问题与安装要点光伏组件常见的质量问题有热斑、隐裂和功率衰减。由于这些质量问题隐藏在电池板内部,或光伏电站运营一段时间后才发生,在电池板进场验收时难以识别,需借助专业设备进行检测。热斑形成原因及检测方法伞齿轮传动光伏组件热斑是指组件在阳光照射下,由于部分电池片受到遮挡无法工作,使得被遮盖的部分升温远远大于未被遮盖部分,致使温度过高出现烧坏的暗斑。光伏组件热斑的形成主要由两个内在因素构
    时间:2023-07-29  热度:17℃
  • EL测试检验规范
    1.目的  EL测试可根据太阳电池组件中电池片发光亮度的差异清楚地显示组件中的裂片(包括隐裂和显裂)、劣质片及焊接缺陷,用于层压前后测试可提高成品率,增加输出功率,最终测试可以杜绝问题组件流入市场,并且可以通过返修来提高成品率。2.适用范围  适用太阳能电池组件生产过程中的EL测试。3.相关文件  无4.名词定义  4.1 隐裂:目视看不到,通过EL等红外成
    时间:2023-06-24  热度:19℃
  • 硅片规则性隐裂原因分析及改善措施
    硅片规则性隐裂原因分析及改善措施  摘要:本文针对单晶硅片在电池制程过程中进刀面及出刀面出现的45°角裂纹及碎片现象,通过对异常片进行端面位置SEM分析、硅材料的晶向测试、氧碳含量测试、位错测试、硅棒掺杂、硅片表面抗弯曲强度、表面粗糙度及硅片边缘厚度测试和产线对比实验排查异常现象产生的原因进行深入分析。分析表明硅片制绒后出现白斑现象主要是硅片生产环节造成的。硅片在电池制程过程中出现异常,
    时间:2023-06-28  热度:20℃
  • 硅片规则性隐裂原因分析及改善措施
    硅片规则性隐裂原因分析及改善措施  摘要:本文针对单晶硅片在电池制程过程中进刀面及出刀面出现的45°角裂纹及碎片现象,通过对异常片进行端面位置SEM分析、硅材料的晶向测试、氧碳含量测试、位错测试、硅棒掺杂、硅片表面抗弯曲强度、表面粗糙度及硅片边缘厚度测试和产线对比实验排查异常现象产生的原因进行深入分析。分析表明硅片制绒后出现白斑现象主要是硅片生产环节造成的。硅片在电池制程过程中出现异常,
    时间:2023-05-29  热度:43℃
  • 硅片规则性隐裂原因分析及改善措施
    硅片规则性隐裂原因分析及改善措施  摘要:本文针对单晶硅片在电池制程过程中进刀面及出刀面出现的45°角裂纹及碎片现象,通过对异常片进行端面位置SEM分析、硅材料的晶向测试、氧碳含量测试、位错测试、硅棒掺杂、硅片表面抗弯曲强度、表面粗糙度及硅片边缘厚度测试和产线对比实验排查异常现象产生的原因进行深入分析。分析表明硅片制绒后出现白斑现象主要是硅片生产环节造成的。硅片在电池制程过程中出现异常,
    时间:2023-05-29  热度:46℃
  • EL检测仪的使用方法及组件隐裂图像评估精品课件(一)
    EL检测仪的使用方法及组件隐裂图像评估精品课件(一)随着现代科技的发展,电子元器件逐渐被广泛应用于各个领域。然而,电子元器件的质量问题却时有发生,这不仅会影响机器的正常运行,还可能会产生较大的安全隐患。因此,对于电子元器件的质量检测显得尤为重要。当前,EL检测仪成为了电子元器件质量检测的主要工具之一。本文将介绍EL检测仪的使用方法及组件隐裂图像评估精品课件。一、EL检测仪的使用方法1. 准备工作在
    时间:2023-05-24  热度:31℃
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