(19)中华人民共和国国家知识产权局(12)发明专利申请(10)申请公布号 (43)申请公布日 (21)申请号 201710840677.X(22)申请日 2017.09.18(71)申请人 中国电子科技集团公司第五十五研究所地址 210016 江苏省南京市中山东路524号(72)发明人 解瑞　程凯　谢新根　杨建　陈宇宁　(74)专利代理机构 南京君陶专利商标代理有限公司 32215代理人 沈根水

(19)中华人民共和国国家知识产权局(12)发明专利申请(10)申请公布号 (43)申请公布日 (21)申请号 201710840677.X(22)申请日 2017.09.18(71)申请人 中国电子科技集团公司第五十五研究所地址 210016 江苏省南京市中山东路524号(72)发明人 解瑞　程凯　谢新根　杨建　陈宇宁　(74)专利代理机构 南京君陶专利商标代理有限公司 32215代理人 沈根水

专利名称：银铜复合触点的银层化学成分检测的前处理方法专利类型：发明专利发明人：陈晓统，沈涛，祁更新，陈晓，张玲洁，樊先平，杨辉申请号：CN201710607034.0申请日：20170724公开号：CN107525700A公开日：20171229专利内容由知识产权出版社提供摘要：本发明涉及金属元素检测技术，旨在提供一种银铜复合触点的银层化学成分检测的前处理方法。包括以下步骤：研磨除去银铜复合触点表

(19)中华人民共和国国家知识产权局(12)发明专利申请(10)申请公布号 (43)申请公布日 (21)申请号 201710840677.X(22)申请日 2017.09.18(71)申请人 中国电子科技集团公司第五十五研究所地址 210016 江苏省南京市中山东路524号(72)发明人 解瑞　程凯　谢新根　杨建　陈宇宁　(74)专利代理机构 南京君陶专利商标代理有限公司 32215代理人 沈根水