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飞点扫描x射线背散射系统研究
飞点扫描x射线背散射系统研究 飞点扫描X射线背散射系统主要基于X射线的背散射原理,对被探测物进行非破坏性检测。该系统主要由X射线源、探测器、样品架、运动控制系统、计算机软件等部分组成,其工作原理是将X射线照射于被探测物表面,被探测物会发生背散射现象,背散射信号会被探测器接收并转化为数字信号,通过计算机处理后形成高分辨率的图像。 飞点扫描X射线背散
时间:2023-12-26 热度:10℃
SEM基本结构及工作原理
SEM基本结构及工作原理SEM1电子束与样品表面的作用弹性散射:电子束的能量不损失,只改变方向,如背散射电子。非弹性散射:入射电子熟不进改变方向,也改变能量。包括二次电子,俄歇电子,特征某射线,荧光。图1电子束与样品的作用深度示意图SEM1.1二次电子Secondaryelectron二次电子是指背入射电子轰击出来的核外电子。由于原子核和外层价电子间的结合能很小,当原子的核外电子从入射电子获得了大
时间:2023-08-19 热度:18℃
扫描电镜实验
扫描电镜实验一、 实验目的1. 了解扫描电镜和能谱仪的构造及工作原理2. 扫描电镜的样品制备3. 利用二次电子像对材料形貌进行观察4. 了解背散射电子像的应用二、 扫描电镜的构造及工作原理扫描电镜是由电子发射并经过聚焦的电子束在样品表面扫描,激发样品产生各种物理信号,经过检测、视频放大和信号处理,在荧光屏上获得能反映样品表面各种特征的扫描图像。扫描电镜由下列五部分组成,如图1(a)所示。各部分主
时间:2023-08-19 热度:9℃
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时间:2023-08-19 热度:19℃
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