电子显微学报Journal of Chinese Electron Microscopy Society第40卷第1期2021年2月Vol. 40,No. 12021-02文章编号:1000-6281( 2021) 01-0050-05基于FIB-SEM 制备尖晶石微米颗粒的球差校正透射电镜样品王 磊曲 迪▽* ,姬静远w ,白国人w收稿
电子显微学报Journal of Chinese Electron Microscopy Society第40卷第1期2021年2月Vol. 40,No. 12021-02文章编号:1000-6281( 2021) 01-0050-05基于FIB-SEM 制备尖晶石微米颗粒的球差校正透射电镜样品王 磊曲 迪▽* ,姬静远w ,白国人w收稿