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> TAG信息列表 > 漂移区
具有应力介质层的横向双扩散半导体场效应晶体管及其制作方法
(19)中华人民共和国国家知识产权局(12)发明专利说明书(10)申请公布号 CN 114464682 A(43)申请公布日 2022.05.10(21)申请号 CN202210198842.7(22)申请日 2022.03.02(71)申请人 西安电子科技大学 地址 710071 陕西省西安市太白南路2号(72)发明人 段宝兴 李明哲 杨银堂 (74)专利代理机构 &n
时间:2024-05-25 热度:18℃
DMOS1
DMOS介绍2010年01月08日 星期五 09:36 DMOS与CMOS器件结构类似,也有源、漏、栅等电极,但是漏端击穿电压高。DMOS主要有两种类型,垂直双扩散金属氧化物半导体场效应管VDMOSFET(vertical double-diffused MOSFET)和横向双扩散金属氧化物半导体场效应管LDMOSFET(lateral double-dif fused
时间:2023-12-04 热度:11℃
高压DDDMOS的设计及优化
The Design and Optimization of High VoltageDDDMOS作者: 游淑民作者机构: 集美大学信息工程学院,福建厦门361021出版物刊名: 三明学院学报页码: 39-46页年卷期: 2018年 第4期高压mos管主题词: 高压DDDMOS;resurf技术;击穿电压;优化摘要:通过Silvaco TCAD软件,对DDDMOS进行工艺仿真,形成漂移区长度为2μ
时间:2023-12-04 热度:15℃
采用双层栅极场板结构的LDMOS器件优化设计
采用双层栅极场板结构的LDMOS器件优化设计慈朋亮自动排焊机【摘 要】研究了一种N型50V RFLDMOS器件的结构.该类型器件对击穿电压BV和导通电阻RDSon等直流参数具有较高要求,一般采用具有两层场板的RESURF结构.通过Taurus TCAD仿真软件对器件最关键的两个部分即场板和N型轻掺杂漂移区进行优化设计,在提高器件击穿电压BV的同时,降低了其导通电阻RDsSon.最终仿真得到的击穿电
时间:2023-05-24 热度:24℃
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