实验  用椭偏仪测量薄膜厚度在半导体平面工艺中，SiO 2薄膜是不可缺少的重要材料。它既可以被作为杂质掩蔽、表面钝化和器件的电隔离材料，也可以用作电容器的介质和MOS 管的绝缘栅介质等。无论SiO 2膜用作哪一种用途的材料，都必须准确的测定和控制它的厚度。另外，折射率也是表征SiO 2膜性质的重要参数之一，因此我们必须掌握SiO 2膜厚及其折射率的测量方法。通常测定薄模厚度的方法有比法

物 理 实 验 报 告实验名称： 椭偏仪测折射率和薄膜厚度                 学院： xx学院 专业班级： xxx             学号： xxx 梅森素数学生姓名： xxx 实验成绩实验预习题    &nbs

椭偏仪实验题目：椭偏仪实验目的：利用传统的消光法测量椭偏参数，使学生掌握椭偏光法的基本原理、仪器的使用，并且实际测量玻璃衬底上薄膜的厚度和折射率。实验原理：见预实验报告。霍尔效应实验步骤：1、调节仪器共轴。调节激光与椭偏仪两个光道共轴，具体步骤为取四个中间有小孔的塑料塞，塞在椭偏仪的两个平行光管筒的四个孔上，用激光射向平行光管筒，使激光穿过四个塑料塞的小孔，尽量使四个塑料塞上没有红光，即激光全部从

【实验名称】        偏振光的分析                              【实验目的】1．观察光的偏振现象，巩固理论知识，加深对光的偏振现象的认识。2．学习直线偏振光的产生与检验方法

实验  用椭偏仪测量薄膜厚度在半导体平面工艺中，SiO 2薄膜是不可缺少的重要材料。它既可以被作为杂质掩蔽、表面钝化和器件的电隔离材料，也可以用作电容器的介质和MOS 管的绝缘栅介质等。无论SiO 2膜用作哪一种用途的材料，都必须准确的测定和控制它的厚度。另外，折射率也是表征SiO 2膜性质的重要参数之一，因此我们必须掌握SiO 2膜厚及其折射率的测量方法。通常测定薄模厚度的方法有比法

实验六 旋光计测量液体的旋光率[实验目的]1. 熟悉旋光计的构造及测量原理；2. 观察旋光现象，掌握用旋光计测定旋光性物质溶液浓度的方法；3. 了解一些药物的旋光性与其生理活性的联系。4.[实验仪器与器材]WXG —1型旋光计、已知浓度的葡萄糖溶液、温度计。[仪器描述]单人飞行器该仪器为三荫板式旋光计。它的构造如图5—1所示，外形见图5—2。图5—1 旋光计构造示意图    &

第六章  习题解答6-1．置于两正交偏振片中的垂面排列液晶盒，在电控双折射效应中，电压V=Vc时透过率最大，试从双折射和干涉角度说明此时对应何种情况？为什么透过率最大。解：    如果用负型液晶ε∥<ε⊥制成垂面排列液晶盒，并在两基片外表面镀上透明导电材料氧化铟与氧化锡的混合物（ITO）作为电极，在液晶盒的前后光路中分别放置起偏器和检偏器，且使两者正交。一束光经

竭诚为您提供优质文档/双击可除马吕斯定律实验报告  篇一：偏振光实验报告  实验报告  姓名：高阳班级：F0703028学号：5070309013同组姓名：王雪峰雨棚梁  实验日期：20XX-3-3  指导老师：助教10  实验成绩：批阅日期：移相电路  偏振光学实验  【实验目的】  1.观察光的偏振现象,

竭诚为您提供优质文档/双击可除马吕斯定律实验报告  篇一：偏振光实验报告  实验报告  姓名：高阳班级：F0703028学号：5070309013同组姓名：王雪峰  实验日期：20XX-3-3  指导老师：助教10  实验成绩：批阅日期：  偏振光学实验  【实验目的】  1.观察光的偏振现象,验证马吕斯定律

实验 偏振光的观测与研究偏振光的理论意义和价值是，证明了光是横波。同时，偏振光在很多技术领域得到了广泛的应用。如偏振现象应用在摄影技术中可大大减小反射光的影响，利用电光效应制作电光开关等。【实验目的】1．通过观察光的偏振现象，加深对光波传播规律的认识。2．掌握偏振光的产生和检验方法。3．观察布儒斯特角及测定玻璃折射率。4．观测圆偏振光和椭圆偏振光。【实验仪器】光具座、激光器、光点检流计、起偏器、

液晶的光学特性分析光的偏振性光矢量  麦克斯韦在电磁波理论中指出电磁波是横波，由两个相互垂直的振动矢量即电场强度存车牌E和磁场强度H来表征，由于人们从光的偏振现象认识到光是横波，而且光速的测量值与电磁波速的理论计算值相符合，所以肯定光是一种电磁波，大量试验表明：在光波中产生感光作用和生理作用的是电场强度E，所以规定E为光矢量，我们把E的振动称为光振动，光矢量E的方向就是光振动的方向。自