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  • 1国内外电子显微镜产品介绍
    国内外电子显微镜产品介绍世界上第一台电子显微镜1932年诞生于德国柏林,当时它的放大倍数仪12倍,1940唐园结年美国RCA公司制成第一台商品磁式电镜,以后各国科学技术工作者为获取高分辨本领的电镜而作出了不懈的努力,l974年科学家海勒和朗勃将消像散器用于电镜而使电镜的分辨本领达到1nm,实现了突破。至50年代,英、美、德、荷、前苏联等国把透射式电镜(电子穿透样品而成像的电镜)投入批量生产。透射电
    时间:2023-11-14  热度:17℃
  • 扫描电镜技术原理及应用
    扫描电镜技术原理及应用摘要: 扫描电镜一种新型的多功能的,用途最为广泛的电子光学仪器。数十年来,扫描电镜已广泛地应用在生物学、医学、冶金学等学科的领域中,促进了各有关学科的发展。关键词:扫描电镜;应用1938 年德国的阿登纳制成了第一台扫描电子显微镜,1965 年英国制造出第一台作为商品用的扫描电镜,使扫描电镜进入实用阶段。近 20 年来,扫描电镜发展迅速,多功能的分析扫描电镜(即扫描电镜带上能谱
    时间:2023-11-14  热度:20℃
  • 虾皮制备壳聚糖的扫描电镜观察
    栾茂田方数据方数据方数据虾皮制备壳聚糖的扫描电镜观察蜂房哈夫尼菌作者:刘慧, 邓春梅, 杨丹, 刘毅, 何兰珍, LIU Hui, DENG Chun-mei, YANG Dan, LIU Yi , HE Lan-zheng作者单位:广东海洋大学理学院,广东,湛江,524088刊名:广州化工英文刊名:GUANGZHOU CHEMICAL INDUSTRY年,卷(期):2010,38(3)被引用次数
    时间:2023-10-13  热度:14℃
  • SEM,EDS,XRD的区别
    凌日SEM,EDS,XRD的区别SEM,EDS,XRD的区别,SEM是扫描电镜,EDS是扫描电镜上配搭的⼀个⽤于微区分析成分的配件——能谱仪,是⽤来对材料微区成分元素种类与含量分析,配合扫描电⼦显微镜与透射电⼦显微镜的使⽤。XRD是X射线衍射仪,是⽤于物相分析的检测设备。SEM⽤于观察标本的表⾯结构,其⼯作原理是⽤⼀束极细的电⼦束扫描样品,在样品表⾯激发出次级电⼦,次级电⼦的多少与电⼦束⼊射⾓有关
    时间:2023-10-04  热度:14℃
  • 扫描电镜和透射电镜的区别
    扫描电镜和透射电镜的区别发布者:飞纳电镜电子显微镜已经成为表征各种材料的有力工具。它的多功能性和极高的空间分辨率使其成为许多应用中非常有价值的工具。其中,两种主要的电子显微镜是透射电子显微镜(TEM)和扫描电子显微镜(SEM)。在这篇博客中,将简要描述他们的相似点和不同点。扫描电镜和透射电镜的工作原理从相似点开始,这两种设备都使用电子来获取样品的图像。他们的主要组成部分是相同的;∙电子源;∙电磁和
    时间:2023-09-13  热度:19℃
  • 一种用于扫描电镜观察陶瓷内部微观结构的制样方法[发明专利]
    专利名称:一种用于扫描电镜观察陶瓷内部微观结构的制样方法专利类型:发明专利发明人:章健,刘梦玮,赵瑾,岛井骏藏,王士维,陈晗,陈鹤拓申请号:CN202010573950.9申请日:20200622公开号:CN111795984B公开日:20220510专利内容由知识产权出版社提供摘要:本发明涉及一种用于扫描电镜观察陶瓷内部微观结构的制样方法,将具有亚微米级晶粒的陶瓷样品折断后得到新鲜断面,再经热腐
    时间:2024-03-19  热度:3℃
  • 一种金属薄片试样端面磨抛和扫描电镜测试用夹具[实用新型专利]
    专利名称:一种金属薄片试样端面磨抛和扫描电镜测试用夹具专利类型:实用新型专利发明人:王霄,张丽,瞿伟,侯渊,嵇铖申请号:CN202122474468.2申请日:20211014公开号:CN216669795U公开日:20220603专利内容由知识产权出版社提供摘要:本实用新型涉及一种金属薄片试样端面磨抛和扫描电镜测试用夹具,该夹具基座的夹持槽内可同时并排放入多块薄片金相试样,基座中间螺纹孔内的紧定
    时间:2024-02-22  热度:11℃
  • 岩石扫描电镜分割阈值确定方法研究
    工艺与技术2020年第2期103岩石扫描电镜分割阈值确定方法研究scctf2o徐  政钛板(中铁十六局集团有限公司,北京 100018)摘 要:隧道工程岩土材料内部结构复杂,多种形式的缺陷引起岩土材料强度的变异性。利用扫描电镜技术能够对岩石材料内部结构定性分析,具体通过将分析结构二值化,在最优分割阈值条件下对图片进行处理。以岩石扫描电镜结果为依据,对比分析Ostu 阈值分割法和最大熵阈值
    时间:2023-08-27  热度:11℃
  • 玄武岩纤维沥青混合料断口的扫描电镜的制样方法[发明专利]
    (10)申请公布号 (43)申请公布日 2014.05.21C N  103808549A (21)申请号 201410086375.4(22)申请日 2014.03.11G01N 1/28(2006.01)G01N 23/22(2006.01)(71)申请人扬州大学地址225009 江苏省扬州市大学南路88号(72)发明人肖鹏  吴正光  蒋德安  吕阳(
    时间:2024-01-09  热度:12℃
  • “扫描电镜测长问题的讨论” 一书的介绍
    “扫描电镜测长问题的讨论”一书的介绍(周剑雄供稿zjx@cags)扫描电子显微镜需要计量检定吗?扫描电子显微镜能测量微米、纳米长度吗?本文集将给予肯定的回答,不仅指出扫描电镜是最佳的测长工具,而且提供了实现的途径,以及计量检定和测长的关键所在。扫描探针扫描电子显微镜如何进行校验和检验?扫描电子显微镜实验室如何准确应对实验室的认证?扫描电子显微镜如何较好地面对当今纳米科技的发展?扫描电
    时间:2023-12-26  热度:13℃
  • 生命科学学院开设研究生扫描电镜课程的探索
    学法教法研究高等教育课程教育研究生命科学学院开设研究生扫描电镜课程的探索谢丽李海燕(兰州大学生命科学学院研究实验中心甘肃兰州730000)【摘要】作为对超微结构进行研究的一种重要手段,扫描电子显微镜在生命科学领域的应用受到高度重视。作者以“突出应用,简化原理、立足平台仪器”为原则,从课程目标、课程内容、课程完成的情况等方面,探索为生命科学学院研究生开设扫描电镜课程的创新方法。【关键词】扫描电子显微
    时间:2023-12-26  热度:7℃
  • 扫描电镜检测国际标准
    扫描电镜检测国际标准扫描电镜(Scanning Electron Microscope,SEM)是一种常用的表面形貌和成分分析仪器,广泛应用于材料科学、生物科学、化学科学等领域。扫描电镜检测国际标准是指对扫描电镜的性能、操作规范以及检测结果的要求和规定。本文将介绍扫描电镜检测国际标准的相关内容。首先,扫描电镜检测国际标准主要包括以下几个方面的内容:仪器性能指标、操作规范、样品制备要求以及结果评定等
    时间:2023-12-26  热度:7℃
  • 扫描电镜原理及样品处理
    扫描电子显微镜的设计思想和工作原理,早在1935年便已被提出来了。1942年,英国首先制成一台实验室用的扫描电镜,但由于成像的分辨率很差,照相时间太长,所以实用价值不大。经过各国科学工作者的努力,尤其是随着电子工业技术水平的不断发展,到1956年开始生产商品扫描电镜。近数十年来,扫描电镜已广泛地应用在生物学、医学、冶金学等学科的领域中,促进了各有关学科的发展。一.扫描电镜的特点和光学显微镜及透射电
    时间:2023-12-26  热度:9℃
  • 透射电镜和扫描电镜的特点及应用
    透射电镜和扫描电镜的特点及应用2008-06-25 13:35扫描电子显微镜的设计思想和工作原理,早在1935年便已被提出来了。1942年,英国首先制成一台实验室用的扫描电镜,但由于成像的分辨率很差,照相时间太长,所以实用价值不大。经过各国科学工作者的努力,尤其是随着电子工业技术水平的不断发展,到 1956年开始生产商品扫描电镜。近数十年来,扫描电镜已广泛地应用在生物学、医学、冶金学等学科的领域中
    时间:2023-12-26  热度:9℃
  • 扫描电镜使用说明书
    扫描电镜使用说明书一、产品概述扫描电镜(Scanning Electron Microscope,SEM)是一种高分辨率的显微镜,能够通过扫描样品表面并检测扫描电子束的反射电子,从而获取样品的形貌和元素成分信息。本说明书将详细介绍扫描电镜的使用方法和注意事项。二、安全操作1. 在使用扫描电镜之前,请确保机器的电源已经正确接入地线,避免触电事故的发生。2. 在打开扫描电镜之前,先检查样品台和操作盖是
    时间:2023-12-26  热度:11℃
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