(19)中华人民共和国国家知识产权局(12)发明专利申请(10)申请公布号 (43)申请公布日 (21)申请号 201711305417.9(22)申请日 2015.08.07(62)分案原申请数据201510484818.X 2015.08.07(71)申请人 北京环度智慧智能技术研究所有限 100088 北京市海淀区学院南路12号京师科技大厦A座611(72)发明人 刘扬　(74)专利

(19)中华人民共和国国家知识产权局(12)发明专利申请(10)申请公布号 (43)申请公布日 (21)申请号 201910942013.3(22)申请日 2019.09.30(71)申请人 公安部第一研究所地址 100048 北京市海淀区首都体育馆南路1号申请人 北京中盾安全技术开发公司(72)发明人 栗红梅　刘玉梅　郑裕林　孙丽丽　孟卿卿　孙琼芳　柳娜　王德敏　闫雪　孙靖博　(74)专利代理机

专利名称：混凝土表面粗糙度检测方法及测试仪专利类型：发明专利发明人：武海蔚，寇逸恬，武宇生，王薇恩，武宇清，王刚，王昌明申请号：CN201811520215.0申请日：20181212公开号：CN109387139A公开日：20190226专利内容由知识产权出版社提供摘要：本发明公开了一种表面粗糙度检测方法及测试仪。检测方法的步骤包括：将摩擦组件置于受测混凝土表面上，使摩擦组件在受测混凝土表面做转

(19)中华人民共和国国家知识产权局(12)发明专利申请(10)申请公布号 (43)申请公布日 (21)申请号 201711305417.9(22)申请日 2015.08.07(62)分案原申请数据201510484818.X 2015.08.07(71)申请人 北京环度智慧智能技术研究所有限 100088 北京市海淀区学院南路12号京师科技大厦A座611(72)发明人 刘扬　(74)专利

(19)中华人民共和国国家知识产权局(12)发明专利申请(10)申请公布号 (43)申请公布日 (21)申请号 201711305417.9(22)申请日 2015.08.07(62)分案原申请数据201510484818.X 2015.08.07(71)申请人 北京环度智慧智能技术研究所有限 100088 北京市海淀区学院南路12号京师科技大厦A座611(72)发明人 刘扬　(74)专利

(19)中华人民共和国国家知识产权局(12)发明专利申请(10)申请公布号 (43)申请公布日 (21)申请号 201711305417.9(22)申请日 2015.08.07(62)分案原申请数据201510484818.X 2015.08.07(71)申请人 北京环度智慧智能技术研究所有限 100088 北京市海淀区学院南路12号京师科技大厦A座611(72)发明人 刘扬　(74)专利

(19)中华人民共和国国家知识产权局(12)发明专利申请(10)申请公布号 (43)申请公布日 (21)申请号 201711305417.9(22)申请日 2015.08.07(62)分案原申请数据201510484818.X 2015.08.07(71)申请人 北京环度智慧智能技术研究所有限 100088 北京市海淀区学院南路12号京师科技大厦A座611(72)发明人 刘扬　(74)专利

(19)中华人民共和国国家知识产权局(12)发明专利申请(10)申请公布号 (43)申请公布日 (21)申请号 201910989533.X(22)申请日 2019.10.17(71)申请人 公安部第一研究所地址 100048 北京市海淀区首体南路1号申请人 北京中盾安全技术开发公司(72)发明人 柳娜　王德敏　闫雪　张振环　王健　孙琼芳　栗红梅　常玉兰　孙靖博　尹桂明　(74)专利代理机构 北京

(19)中华人民共和国国家知识产权局(12)发明专利申请(10)申请公布号 (43)申请公布日 (21)申请号 201910942013.3(22)申请日 2019.09.30(71)申请人 公安部第一研究所地址 100048 北京市海淀区首都体育馆南路1号申请人 北京中盾安全技术开发公司(72)发明人 栗红梅　刘玉梅　郑裕林　孙丽丽　孟卿卿　孙琼芳　柳娜　王德敏　闫雪　孙靖博　(74)专利代理机

专利名称：电子元件分选装置专利类型：发明专利发明人：林芳旭，陈荣宗申请号：CN201510381623.2申请日：20150702公开号：CN106180008A公开日：20161207专利内容由知识产权出版社提供摘要：本发明一种电子元件分选装置，包括：一检测机构，用以对受测元件进行检测，设有将完成检测的受测元件予以排出的管路；一分选机构，包括：一分配头，与受测元件的排出管路连结；一分配座，包括多

专利名称：电子元件分选装置专利类型：发明专利发明人：林芳旭，陈荣宗申请号：CN201510381623.2申请日：20150702公开号：CN106180008A公开日：20161207专利内容由知识产权出版社提供摘要：本发明一种电子元件分选装置，包括：一检测机构，用以对受测元件进行检测，设有将完成检测的受测元件予以排出的管路；一分选机构，包括：一分配头，与受测元件的排出管路连结；一分配座，包括多

(19)中华人民共和国国家知识产权局(12)发明专利申请(10)申请公布号 (43)申请公布日 (21)申请号 201910989533.X(22)申请日 2019.10.17(71)申请人 公安部第一研究所地址 100048 北京市海淀区首体南路1号申请人 北京中盾安全技术开发公司(72)发明人 柳娜　王德敏　闫雪　张振环　王健　孙琼芳　栗红梅　常玉兰　孙靖博　尹桂明　(74)专利代理机构 北京

(19)中华人民共和国国家知识产权局(12)发明专利申请(10)申请公布号 (43)申请公布日 (21)申请号 201910942013.3(22)申请日 2019.09.30(71)申请人 公安部第一研究所地址 100048 北京市海淀区首都体育馆南路1号申请人 北京中盾安全技术开发公司(72)发明人 栗红梅　刘玉梅　郑裕林　孙丽丽　孟卿卿　孙琼芳　柳娜　王德敏　闫雪　孙靖博　(74)专利代理机

EMC测试报告编号：---测试目的铁水预处理受测设备配置1.受测设备型号对照金丝雀定位炭化2.受测设备及配套电源适配器/电源模块照片受测设备裸板正面图受测设备裸板背面图受测设备外观图电梯砝码受测设备电源适配器图片照片须需体现受测设备的信号端口类别，电源适配器照片要体现型号。3.受测设备配置如无说明则需要在各测试项中提供测试配置照片。lw24-40.52.2设备配置列例表新风除湿机组表2.2.2 零

自动检测系统一种自动化集成电路整机测试系统，包括测试用电脑、自动插拔机构、温度控制装置及控制装置。其中测试用电脑适于承载及测试受测集成电路，自动插拔机构可以将受测集成电路置入于测试用电脑上及将受测集成电路从测试用电脑上移去。温度控制装置用以控制受测集成电路的温度。控制装置电性连接测试用电脑及自动插拔机构，可以控制自动插拔机构的动作。而测试用电脑于承载受测集成电路后构成一整机电脑，通过温度控制装置，