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  • 一种原子力显微镜用亚微米探针的制备方法[发明专利]
    (19)中华人民共和国国家知识产权局(12)发明专利申请(10)申请公布号 (43)申请公布日 (21)申请号 201811195404.5(22)申请日 2018.10.15(71)申请人 上海交通大学地址 200240 上海市闵行区东川路800号(72)发明人 李慧琴 韩瑶 张莹 何琳 (74)专利代理机构 上海旭诚知识产权代理有限公司 31220代理人 郑立(51)Int.Cl.G01Q&n
    时间:2024-01-30  热度:6℃
  • 一种原子力显微镜用亚微米探针的制备方法[发明专利]
    (19)中华人民共和国国家知识产权局(12)发明专利申请(10)申请公布号 (43)申请公布日 (21)申请号 201811195404.5(22)申请日 2018.10.15(71)申请人 上海交通大学地址 200240 上海市闵行区东川路800号(72)发明人 李慧琴 韩瑶 张莹 何琳 (74)专利代理机构 上海旭诚知识产权代理有限公司 31220代理人 郑立(51)Int.Cl.G01Q&n
    时间:2024-02-02  热度:12℃
  • 一种原子力显微镜用亚微米探针的制备方法[发明专利]
    (19)中华人民共和国国家知识产权局(12)发明专利申请(10)申请公布号 (43)申请公布日 (21)申请号 201811195404.5(22)申请日 2018.10.15(71)申请人 上海交通大学地址 200240 上海市闵行区东川路800号(72)发明人 李慧琴 韩瑶 张莹 何琳 (74)专利代理机构 上海旭诚知识产权代理有限公司 31220代理人 郑立(51)Int.Cl.G01Q&n
    时间:2024-02-01  热度:14℃
  • 扫描隧道显微镜在材料分析中的应用
    扫描隧道显微镜在材料分析中的应用应用实例扫描探针1.应用于纸张质量检验。2.应用于陶瓷膜表面形貌分析。3.评定材料纳米尺度表面形貌特征原子力显微镜是以扫描隧道显微镜基本原理发展起来的扫描探针显微镜。原子力显微镜的出现无疑为纳米科技的发展。
    时间:2023-12-26  热度:9℃
  • 物理实验中的原子力显微镜操作要点
    物理实验中的原子力显微镜操作要点导语:原子力显微镜(Atomic Force Microscope,简称AFM)是一种非常重要的仪器,它能够以原子级别的分辨率观察样品表面形貌和表面力。本文将介绍物理实验中使用原子力显微镜时需要注意的操作要点。引言:原子力显微镜是一种基于原子间相互作用的测量技术,通过探针与样品表面的力发生作用,可以观察样品表面的形貌和材料性能。它在纳米科学与纳米技术领域有着重要应用
    时间:2023-12-26  热度:9℃
  • 原子力显微镜的应用与发展
    原子力显微镜的应用与发展原子力显微镜(atomic force microscopy,AFM)是一种利用原子间互相作用,通过探针扫描物体表面来实现高分辨率成像的现代化工具。它以其具有纳米级分辨率和高灵敏度的显微测量技术,已成为研究材料学、生物学等领域的主要手段之一。本文将从原子力显微镜的原理、应用和未来发展等多个方面,为读者深入介绍这一重要技术。一、原理概述原子力显微镜的基本原理是利用原子间相互作
    时间:2023-12-26  热度:13℃
  • 原子力显微镜的原理及使用
    原子力显微镜的原理及使用原子力显微镜(Atomic Force Microscope,AFM)是一种基于原子力相互作用原理的高分辨率显微镜。它通过在扫描探针与样品表面之间施加微小力量,测量和绘制出样品表面的形貌和力学性质。与其他显微镜相比,原子力显微镜具有极高的分辨率和灵敏度,能以原子甚至分子级别观察样品。原理:原子力显微镜的工作原理基于原子尖端与样品表面之间的相互作用。在扫描探针尖端和样品表面之
    时间:2023-12-26  热度:12℃
  • 扫描探针显微镜在二维材料中的应用
    扫描探针显微镜在二维纳米材料中的应用1、原子力显微镜原理 原子力显微镜是一种常用的扫描探针显微镜,是利用探针和待测样品表面极微弱的原子间相互作用力来探究材料的表面信息的高灵敏度的仪器。它的基础功能是对材料表面的微观结构进行成像,分辨率能够达到原子级别。图1给出了常用激光探测原子力显微镜的工作原理示意图。控制针尖和样品的作用力保持恒定,当针尖和和样品相对移动时,探针高度会随着样品表面原子的高起伏而变
    时间:2023-12-26  热度:9℃
  • 利用原子力显微镜进行表面形貌观察的指南
    利用原子力显微镜进行表面形貌观察的指南导语:随着科技的不断进步,原子力显微镜(Atomic Force Microscope, AFM)作为一种先进的纳米观测工具,被广泛应用于材料科学、生物学以及物理学等领域。本文将为初学者提供一份关于如何使用原子力显微镜进行表面形貌观察的指南。1. 简介与工作原理原子力显微镜是一种基于原子相互作用力进行成像的仪器。它通过利用微探针扫描样品表面,探测样品表面的微小
    时间:2023-12-26  热度:11℃
  • 原子力显微镜的使用教程
    原子力显微镜的使用教程引言:原子力显微镜(Atomic Force Microscope,AFM)是一种重要的纳米级三维表面成像工具,它利用原子尺度的力相互作用实现高分辨率成像。本篇文章将为大家介绍原子力显微镜的使用教程,帮助读者快速了解原子力显微镜的操作和常见问题解决方法。一、仪器准备在使用原子力显微镜之前,需要确保所有必要的仪器和材料准备就绪。主要包括原子力显微镜主机、扫描探针、样品架、样品夹
    时间:2023-12-26  热度:13℃
  • 原子力显微镜技术的应用前景
    原子力显微镜技术的应用前景原子力显微镜(AFM)技术是一种高分辨率的扫描探针显微镜技术,它能够在实验室中观察单个原子的运动,测量晶体表面的几何形态,并对材料的物理性质进行分析。它也是一种广泛应用于物理、化学、材料科学、生物医学等领域的重要实验工具。本文将介绍原子力显微镜技术的基本原理、应用领域以及未来发展方向。一、 原子力显微镜技术基本原理原子力显微镜技术是一种基于扫描探针的显微镜技术,其观察的是
    时间:2023-12-26  热度:7℃
  • 原子力显微镜组成成分
    原子力显微镜组成成分引言原子力显微镜(Atomic Force Microscope,AFM)是一种利用探测器探测表面原子尺寸的纳米仪器。它通过探针与样品表面进行相互作用,并通过测量探针运动的力来获得样品表面的形貌和性质。原子力显微镜的组成成分对其性能和应用有着重要的影响。本文将全面深入地探讨原子力显微镜的组成成分,并逐个介绍其功能和作用。基本构成原子力显微镜的基本构成包括扫描探针、探针支架、扫描
    时间:2023-12-26  热度:11℃
  • 原子力显微镜的使用教程
    原子力显微镜的使用教程引言:原子力显微镜(Atomic Force Microscope,AFM)是一种重要的纳米级三维表面成像工具,它利用原子尺度的力相互作用实现高分辨率成像。本篇文章将为大家介绍原子力显微镜的使用教程,帮助读者快速了解原子力显微镜的操作和常见问题解决方法。一、仪器准备在使用原子力显微镜之前,需要确保所有必要的仪器和材料准备就绪。主要包括原子力显微镜主机、扫描探针、样品架、样品夹
    时间:2023-12-26  热度:8℃
  • 物理实验技术中原子力显微镜的使用方法详解
    物理实验技术中原子力显微镜的使用方法详解原子力显微镜(atomic force microscope,AFM)是一种基于原子力作用的高分辨率表面成像和测量仪器。它可以实现对物质表面的高分辨率成像,并且能够进行纳米级的力学性质测量。本文将详细介绍原子力显微镜的使用方法。一、原子力显微镜的基本原理和组成原子力显微镜的工作原理是利用一根非常细的探针在样品表面扫描,并测量样品表面与探针之间的力的变化。通过
    时间:2023-12-26  热度:6℃
  • 不同体积分数二甲基亚砜对DNA 变性的影响
    山东科学SHANDONGSCIENCE第35卷第3期2022年6月出版Vol.35No.3Jun.2022收稿日期:2021 ̄05 ̄16基金项目:国家自然科学基金(12074289㊁11574232)作者简介:徐敏(1996 )ꎬ女ꎬ硕士研究生ꎬ研究方向为生命现象中的凝聚态物理ꎮTel:137****8019ꎬE ̄mail:1062608851@qq.com∗通信作者ꎬ杨光参ꎬ男ꎬ教授ꎮE ̄mai
    时间:2023-07-20  热度:8℃
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