同位素注入剖面玷污井测井工艺改进作者：刘鹏程　尤立忠　赵立安　王玉山来源：《硅谷》2009年第纸币识别器08期        [摘要]通过对往年进行的成功率分析中得出其成功率低的原因主要是由于遇阻、玷污等多个因素造成。尝试用双释放器的替代从井口注入冷球测试工艺，对部分玷污井进行测试。改善了冷球从井口注入存在两方面弊端：一是用量大，从井口到同位素正常释放位置远