用于快速估计集成电路布局中的光刻绑定图案的方法[发明专利]
专利名称:用于快速估计集成电路布局中的光刻绑定图案的方法专利类型:发明专利发明人:S·巴赫里,D·L·德玛里斯,M·加布拉尼,D·O·梅尔维尔,A·E·罗森布鲁斯,田克汉申请号:CN201180034018.8申请日:20110706公开号:CN102986002A公开日:20130320专利内容由知识产权出版社提供摘要:本发明提供光刻难度度量,该光刻难度度量是以下因子的函数:能量比因子,包括衍射
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