CN201711119375.X，一种集成电路板硬度测试装置，本发明涉及一种集成电路测试装置，尤其涉及一种集成电路板硬度测试装置。本发明要解决的技术问题是提供一种可代替人工检测硬度、检测迅速、使用效果好的集成电路板硬度测试装置。为了解决上述技术问题，本发明提供了这样一种集成电路板硬度测试装置，包括有固定架、第一锥齿轮、电机、第二锥齿轮、第三转轴、第三轴承、凸轮、滚轴、连接杆、扇形齿轮、齿条等；固定架左部从上到下依次设有第三轴承和电机，电机上设有第一锥齿轮，第三轴承内设有第三转轴。本发明可代替人工检测硬度、